Se presentan los conceptos básicos de dinámica.Descripción completa
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Descripción: introducción a Piaget
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Descripción: Ejercicios,test,problemas,y examines actualizados. Administración y dirección de empresas.
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Logica
ESCUELA SUPERIOR POLITÉCNICA DE CHIMBORAZO
FACULTAD DE INFORMÁTICA Y ELECTRÓNICA ESCUELA DE INGENIERIA ELECTRÓNICA EN CONTROL Y REDES INDUSTRIALES
ASIGNATURA:
PROFESOR:
SISTEMAS EMBEBIDOS ING. HENRY VALLEJO V.
NOMBRE: CODIGO :
omys CONSULTA:
“INTRODUCCIÓN A JTAG”
PERIODO:
SEPTIEMBRE 2!" # $EBRERO
2!%
INTRODUCCIÓN A JTAG
HISTORIA
Joint Test Action Group (JTAG) es un grupo de la industria formado en 1985 para desarrollar métodos de verificar circuitos impresos (PCs)! •
1990 se convierte en el est"ndar del #$$$ 11%9!1 titulado &'tandard Test Access Port and oundar'can Arcitecture*!
•
1994 se agrega la especificaci+n del oundar 'can ,escription -anguage (',-)!
•
A partir de 1990 es adoptado masivamente por los fa.ricantes de dispositivos/ sus usos se an diversificado nota.lemente!
CARACTERISTICAS
-a interfa0 JTAG consiste de % o 5 pines especiales •
TCK: Test Cloc
•
TMS: Test 2ode 'elect
•
TDI: Test ,ata #n
•
TDO: Test ,ata 3ut
•
TRST: Test 4eset (opcional)
ARQUITECTURA •
TAP Controller
•
Registros
•
Instrucciones
•
Celdas de Boundary Scanpueden
TA C!"tr!##er
•
Cada Test Access Port (TAP) consiste de una máquina de estados (FSM)
•
Se utilian TC! y TMS para "acer e#olucionar la FSM$ T%I para escri&ir y T%' para leer datos
Re$i%tr!% JTAG
•
Cada TAP tiene un nico Instruction Register (IR) y dos o mas %ata Registers
•
(%R) *os %Rs requeridos por el estándar son+ B,PASS+ registro de un solo &it para des"a&ilitar el dispositi#o
•
I%C'%-+ identi.ica el .a&ricante$ el c/digo de dispositi#o y la re#isi/n Sir#e
•
• •
para lin0ear el de#ice con el correspondiente BS%* BSR+ registro de Boundary Scan Permite mo#er datos "acia y desde los pines del dispositi#o -l #alor del IR selecciona el %R usado Pueden e1istir más registros opcionales 2étodo de acceso a los diferentes registros
ASO1
ASO&
I"%tr'((i!"e%
•
*as distintas instrucciones se seleccionan escri&iendo un #alor determinado en
•
IR -l estándar de.ine las siguientes instrucciones+ o
BYPASS: se
conecta T%I y T%' a tra#2s del registro B,PASS para poder
acceder a otros dispositi#os en la cadena I o
DCODE+
se conecta T%I y T%' a tra#2s del registro I%C'%-
o
EXTEST: se
conecta T%I y T%' a tra#2s del registro BSR
-n capture3dr se samplea el estado de los pines de entrada -n s"i.t3dr se escri&e4lee nue#os #alores a4desde el BSR -n update3dr se actualian los #alores a los pines de salida o
PRELOAD: carga
o
SAMPLE:
#alores de test en el BSR antes de un -5T-S T
permite leer el #alor de los pines del dispositi#o en
.uncionamiento A #eces se com&ina con PR-*'A%
Ce#da de )!'"dar* S(a"
Permite leer escri.ir datos en los pines a través del registro de .oundar scan ('4)
