Search
Home
Saved
Sign In
Upload
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
0
637 views
m
Save
Embed
Share
Print
Pengantar Nanoteknologi
1
Download
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
Jurnal Nanosains & Nanoteknologi
ISSN
Vol. 2 No.1, Februari 2009
Sheet Music
Review: Karakterisasi Nanomaterial (a)
Mikrajuddin Abdullah dan Khairurrijal Laboratorium Sintesis dan Fungsionalisasi Nanomaterial Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam, ITB ITB Jalan Ganeca 10 Bandung 40132 (a) E-mail:
[email protected] Diterima Editor Diputuskan Publikasi
: :
20 Mei 2008 2 Juni 2008
Abstrak
Pada paper ini akan dibahas sejumlah metode karakterisasi yang biasa digunakan dalam penelitian nanomat
Kata Kunci: SEM,
TEM, AFM, XRD, BET
1. Pendahuluan
Riset nanomaterial, khususnya bidang eksperimen, tidak bisa lepas dari kegiatan karakterisasi atau pengukuran. Dengan karakterisasi kita bisa yakin bahwa material yang disintesis sudah memenuhi kriteria nanostruktur, yaitu salah satu dimensinya berukuran nanometer. Dalam kesepakatan umum sampai saat ini, dimensi nanometer adalah ukuran yang kurang dari 100 nm. Karakterisasi juga memberikan informasi tentang sifat-sifat fisis maupun kimiawi nanomaterial tersebut. Ini sangat penting karena ketika dimensi material menuju nilai beberapa nanometer (kurang dari 10 nm), banyak sifat fisis maupun kimiawi yang bergantung pada ukuran. Ini menghasilkan sejumlah kekayaan sifat dan peluang memanipulasi atau menggenerasi sifat-sifat baru yang tidak dijumpai pada material ukuran besar (bulk).
dapat dibangun menggunakan program gambar yang ada dalam komputer.
2. Scanning electron micrsocopy (SEM) SEM adalah salah satu jenis mikroskop elektron yang menggunakan berkas elektron untuk menggambar profil permukaan benda. Prinsip kerja SEM adalah menembakkan permukaan benda dengan berkas elektron bernergi tinggi seperti diilustrasikan pada Gbr. 1.
Sign up to vote on this title Gambar 1 Dalam berkas elektron be Not useful Useful SEM mengenai permukaan material. Elektron p elektron sekunder dipancarkan kembali d yang bergantung pada profil p rofil permukaan mate
Berkas elektron
Elektron pantulan
Permukaan ma
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
Search
Home
Saved
0
637 views
Sign In
Upload
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
m
Save
Embed
Share
Print
Pengantar Nanoteknologi
1
Download
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
J. Nano Saintek. Vol. 2 No. 1, Feb. 2009
kinetik K = eV . Dengan demikian kita dapat menulis momentum elektr on sebagai p
=
2meV , dan panjang
yang digunakan harus yang memiliki titik l Logam pelapis yang umumnya digunakan ad
gelombang de Brogile λ = h / 2meV . Umumnya tegangan yang digunakan pada SEM ad alah puluhan kilovolt. Sebagai ilutrasi, misalkan SEM dioperasikan pada tegangan 20 kV maka panjang gelombang de -12 Broglie elektron sekitar 9 × 10 m. Syarat agar SEM dapat menghasilkan citra yang tajam adalah permukaan benda harus bersifat sebagai pemantul elektron atau dapat melepaskan elektron sekunder ketika ditembak dengan berkas elektron. Material yang memiliki sifat demikian adalah logam. Jika permukaan logam diamati di bawah SEM maka profil permukaan akan tampak dengan jelas. Bagaimana dengan material bukan logam seperti isolator? Agar profil permukaan bukan logam dapat diamati dengan jelas dengan SEM maka permukaan material tersebut harus dilapisi dengan logam seperti diilustrasikan pada Gbr. 2 [1-3]. Film tipis logam dibuat pada permukaan material tersebut sehingga dapat memantulkan berkas elektron. Metode pelapisan yang umumnya dilakukan adalah evaporasi dan sputtering
a
33 µ
b
Permukaan material You're Reading a Preview
1
Unlock full access with a free trial.
µm
Download With Free Trialc Pelapisan (coating)
Lapisan tipis logam
Sign up to vote on this title
Useful
Not useful
300 nm
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
Search
Home
Saved
0
637 views
Sign In
Upload
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
m
Save
Embed
Share
Print
Download
Pengantar Nanoteknologi
1
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
J. Nano Saintek. Vol. 2 No. 1, Feb. 2009
permukaan sample akan menguap dan kembali menjadi isolator. Akhirnya bayangan yang terekam tiba-tiba menjadi hitam. Gambar 3 adalah beberapa contoh bayangan material yang diamati dengan SEM. Seperti pada Gbr. 3(a) tampak jelas bahwa ukuran partikel yang dibuat tidak seragam, tetapi bervariasi. Pernyataan selanjutnya adalah bagaimana menentukan distribusi ukuran partikel? Perhatikan, setiap foto SEM memiliki bar skala yang panjangnya sudah tertentu. Bar tersebut menjadi acuan penentuan ukuran partikel. Contohnya ada bar yang tertulis panjangnya 0,5 µm. Jika diukur dengan penggaris misalkan panjang bar tersebut adalah 1 cm maka 1 cm pada gambar bersesuaian dengan panjang 0,5 µm ukuran sebenarnya. Jika kita mengukur diameter partikel pada gambar dengan menggunakan penggaris adalag 2,2 cm maka diameter riil partikel tersebut adalah (2,2 cm/1 cm) × 0,5 µm = 1,1 µm.
dan sumbu vertical adalah jumlah partikel. D kita peroleh tampak pada Gbr. 5. Tabel 1 Tabulasi ukuran partikel Jangkauan diameter (nm) 0 200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800
Jumlah
4 20 1 15 14 12 80 10 10
160 l e120 k i t r a p h a 80 l m u J
You're Reading a Preview 40
Unlock full access with a free trial.
0
m 33 µm
0 Download With Free Trial
500
1000
15
Diameter partikel (nm) Gambar 5 Diagram sebaran ukuran partikel. 160 l120 e Sign up to vote on this title k i t r a Useful Not useful p h 80 a l m
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
Search
Home
Saved
0
637 views
Upload
Sign In
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
m
Save
Embed
Share
Print
Download
Pengantar Nanoteknologi
1
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
J. Nano Saintek. Vol. 2 No. 1, Feb. 2009
kurva tampak pada Gbr 6. Dari nilai parameter kita dapat menentukan diameter rata-rata partikel. SEM yang paling canggih pun yang ada saat ini tidak sanggup mengamati ukuran partikel dalam orde beberapa nanometer. Bayangan jelas yang dapat diperoleh SEM minimal hanya sekitar 50 nm. Gambar ini pun biasanya diamati dengan field emission SEM (FE-SEM). Di bawah ukuran tersebut SEM memberikan bayangan yang kabur. 3. Transmission Electron Microscopy (TEM) TEM adalah alat yang paling teliti yang digunakan untuk menentukan ukuran partikel karena resolusinya yang sangat tinggi. Partikel dengan ukuran beberapa nanometer dapat diamati dengan jelas menggunakan TEM. Bahkan dengan high resolution TEM (HR-TEM) kita dapat mengamati posisi atom-atom dalam partikel. Prinsip kerja TEM sangat mirip dengan prinsip kerja peralatan rontgen di rumah. Pada peralatan roentgen, gelombang sinar-X menembus bagian lunak tubuh (daging) tetapi ditahan oleh bagian keras tubuh (tulang). Film yang diletakkan di belakang tubuh hanya menangkap berkas sinar-X yang lolos bagian lunak tubuh. Akibatnya, film menghasilkan bayangan tulang. Pada TEM, sample yang sangat tipis ditembak dengan berkas electron yang berenergi sangat tinggi (dipercepat pada tegangan ratusan kV). Berkas electron You're Reading a Preview dapat menenbus bagian yang “lunak” sample tetapi ditahan oleh bagian keras sample (seperti partikel). Unlock full access with a free trial. Detektor yang berada di belakang sample menangkap berkas electron yang lolos dari bagian lunak sample. Gam bar Download Trial7 Foto TEM partikel dan multi Akibatnya detector menangkap bayangan yang bentuknyaWith Free nanotube. sama dengan bentuk bagian keras sample (bentuk partikel). Dalam pengoperasian TEM yang paling sulit dilakukan adalah mempersiapkan sample. Sampel harus setipis mungkin sehingga dapat ditembus electron. Sampel ditempatkan di atas grid TEM yang terbuat dari tembaga atau karbon. Jika sample berbentuk partikel, biasanya partikel didispersi di dalam zat cair yang mudah Sign up to vote on this title menguap seperti etanol lalu diteteskan ke atas grid TEM. Useful Not useful Jika sample berupa komposit partikel di dalam material lunak seperti polimer, komposit tersebut harus diiris tipis (beberapa nanometer). Alat pengiris yang digunakan
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
Search
Home
Saved
0
637 views
Upload
Sign In
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
m
Save
Embed
Share
Print
Download
Pengantar Nanoteknologi
1
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
J. Nano Saintek. Vol. 2 No. 1, Feb. 2009
konsp fisika dasar. AFM tidak memerlukan sistem vakum, tegangan tinggi, maupun fasilitas pendingin seperti pada SEM dan TEM. Perangkat utama sebuah AFM adalah sebuah tip yang sangat tajam yang ditempatkan di ujung cantilever, seperti tampak pada Gbr. 9. Cantilever beserta tip digerak an sepanjang permukaan benda yang diamati. Dengan adanya tekstur permukaan benda yang tidak rata maka selama mengerakkan tip sudut kemiringan cantilever berubah-ubah. Perubahan sudut tersebut memberikan informasi kealaman tekstur permukaan benda.
kedalaman tekstur permukaan benda dap Sudut pantul sinar laser pada berbaga ditentukan. Selanjutnya dengan program pen yang ada dalam computer, prfil permukaan dibangun. Gambar 10 adalah contoh profil permu yang diamati dengan AFM. Sampel berupa s nanotube yang dipuntir. Luas permukaan diamati adalah 4 µm × 4 µm. AFM memberik yang teliti tentang dimensi tekstur arah n lurus permukaan) tetapi sering kurang teliti u tekstur arah tangensial (sejajar permukaan). Pergeseran posisi cantilever arah no saja (puluhan nanometer) dapat direkam d Kesalahan pengamatan arah sejajar sample s jika ada perubahan tekstur pada ukuran daripada ukuran tip.
5. Karakterisasi Lebar Celah Pita Energi Lebar celah pita energi se menentukan sejumlah sifat fisis semikonduk Bebera pa besaran yang bergantung pada le energi adalah mobilitas pembawa mu semikonduktor, kerapatan pembawa muata absorpsi, dan spectrum luminisensi. Ketik membuat divais mikroelektronik, leb You're Reading a untuk Preview energi menentukan tegangan cut off arus yang mengalir da Unlock full access with semikonduktor, a free trial. kebergantungan arus pada suhu, dan sebagain Gambar 9 Contoh tip AFM yang difoto dengan SEM. Bagaimana cara menentukan lebar Download With Free Trial energi dalam semikonduktor? Caranya ad pengamatan spektrometri ultraviolet-visibl Alat yang digunakan adalah spectrome Bagaimana metode ini bekerja? Mari kita d Dasar pemikiran metode tersebut cuku Jika material disinari dengan gelombang ele maka foton akan diserap oleh elektron dal Setelah menyerap foton, elektron akan berus ke tingkat energi yang tinggi. Sign up to vote on lebih this title ilustrasi pada Gbr. 11. Jika Useful Not useful Perhatikan yang diberikan kurang dari lebar celah pita elektron tidak sangggup meloncat ke Elektron tetap berada opada pita valensi. Da
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
Search
Home
Saved
0
637 views
Sign In
Upload
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
m
Save
Embed
Share
Print
Download
Pengantar Nanoteknologi
1
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
J. Nano Saintek. Vol. 2 No. 1, Feb. 2009
Pita konduksi
cahaya yang atenuasi
ditransmisikan
memenuhi
I T ( ) = I o ( ) exp[− σ ( ) x]
dengan σ ( ) adalah koefisien absorpsi yan
pada frekuensi foton dan x adalah keteba Persamaan di atas dapat ditulis ulang se bagai
σ (ω )
Radiasi EM dengan energi kurang dari lebar celah energi
⎡ I (ω ) ⎤ ln ⎢ T ⎥ x ⎣ I o (ω ) ⎦ 1
Spektrometer UV-Vis memungki menentukan intensitas absorpsi sebagai fun atau panjang gelombang. Gam bar 12 spektrum absorpsi UV-Vis partikel CdSe dengan spektroskop UV-Vis [4].
Pita valensi
Pita konduksi
) g n a r 6 a b m e s ( i s 4 p r o You're Reading a Preview s b a s 2 trial. Unlock full access with a t free a i s n e t nTrial Download With Free I
400
Radiasi EM dengan energi lebih dari lebar celah energi
=−
Sekitar band gap
500 70 600 Panjang gelombang (nm)
Gambar 12 Contoh spektrum absorpsi UV CdSe.
Dari kurva tersebut kita dapatmenentu Sign up to vote on this title sebagai fungsi ω dari daerah tampak hingga u Useful Not useful Untuk material semikonduktor denga energi langsung (direct band gap) ada hub sederhana antara σ (ω ) dan ω , khususnya
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
Search
Home
Saved
0
637 views
Upload
Sign In
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
m
Save
Embed
Share
Print
Pengantar Nanoteknologi
1
Download
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
J. Nano Saintek. Vol. 2 No. 1, Feb. 2009
Perpotongan kurva dengan sumbu datar tidak lain daripada lebar celah pita energi bahan.
4
6
dihasilkan, seperti diilustrasikan pada Gbr yang berukuran besar dengan satu orientasi m puncak difraksi yang mendekati sebuah g Kristallites yang sangat kecil menghasil difraksi yang sangat lebar. Lebar puncak difr memberikan informasi tentang ukuran kristal
3
0 1 ×
2
) 2
s a t i s n e t n I
ω
h
σ (
1 Eg 0,4
0,6
0,8 hω (eV)
1,0
1,2
2θ
Gambar 13 Kurva [σ (ω )hω ] terhadap energi foton 2
untuk nanopartikel PbS. Kurva kiri untuk partikel yang besar dan kurva kanan untuk partikel yang kecil.
s a t i s n e t n I
Untuk semikonduktor yang memiliki indirect-band gap, hubungan antara koesisien absorpsi dengan frekuansi cahaya dapat didekati dengan persamaan σ (ω )
= A[hω − E g ]
dengan A adalah konstanta.
2
2θ
You're Reading a Gambar Preview14 Makin lebar puncak difraksi s (4)
makin kecil ukuran kristallites. Ukuran kris menghasilkan pola difraksi pada gambar k ecil daripada ukuran kristallites yang meng difraksi atas. Download With Free Trial
Unlock full access with a free trial.
6. Metode Scherrer TEM adalah alat yang sangat mahal, baik dari segi harga, biaya operasional, maupun pemeliharaan. Tidak semua universitas di dunia memiliki fasilitas ini termasuk universitas di negara-negara maju. Di beberapa negara maju, TEM banyak yang ditempatkan di pusat penelitiaan yang digunakan secara bersama-sama oleh beberapa universitas atau lembaga riset. Bagaimana kita menentukan ukuran partikel nanoi jika TEM tidak tersedia? Ketiadaan TEM tidak menghalangi kita untuk
Mengapa kristallites yang kecil m puncak yang lebar? Penyebabnya karena kri kecil memilik i bidang pantul sinar-X ya Puncak difraksi dihasilkan oleh interfe konstruktif cahaya yang dipantulkan oleh b kristal. Dalam kuliah tentang interferensi ge mendapatkankan bahwa makin banyak j Sign up to vote on this title interferensi maka makin sempit ukuran gar Useful celah Not useful Interferensi layar. banyak dengan jum berhingga menghasilkan frinji yang sanga sangat terang. Jumlah celah yang sangat ba
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
Search
Home
Saved
0
637 views
Sign In
Upload
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
m
Save
Embed
Share
Print
Pengantar Nanoteknologi
1
Download
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
J. Nano Saintek. Vol. 2 No. 1, Feb. 2009
Bentuk yang lebih umum lagi adalah menggunakan parameter B bukan sebagai FWHM dari puncak difraksi, tetampi menggunakan B dari persamaan Warren, yaitu
B = FWHM
2 sp
616,83, pusat kurva = 29,205o, FWHM = 0,7 = 391,91, dan tinggi = 542,60.
700
− FWHM
2 st
(6)
]600 g n a r a500 b m e s400 [ t n300 u o C
dengan FWHM sp adalah lebar puncak difraksi sample pada setengah maksimum dan FWHM st adalah lebar puncak difraksi kristal yang sangat besar yang lokasi puncaknya berada di sekitar lokasi puncak sample yang 200 akan kita hitung. Tetapi, umumnya FWHMst sangat kecil sehingga persamaan (5) dapat diangap sebagai 100 aproksimasi yang cukup baik. 28.0 28.5 29.0 29.5 Sekarang kita coba melihat aplikasi rumus ini o untuk mencari ukuran kristallin suatu sample. Pertama 2θ [ ] kita amati pola difraksi sinar -X untuk sample tersebut o pada jangkauan sudut yang cukup luas (antara 0 sampai Gambar 16 Difraksi sinar-X pada jangkaua o 90 ). Gambar 15 adalah contoh pola difraksi sinar-X sangat sempit, yaitu sekitar puncak yang sample yttrium oksida (Y2O3) yang dibuat dengan o sudut antara 28,0 sampai 30,5º. pemanasan dalam larutan polimer. Berdasarkan foto SEM ukuran partikel beberapa ratus nanometer. Kita ingin menentukan ukuran kristallin sehingga kita dapat 700 mengertahui apakah partikel tersebut adalah single kristallin atau polikristallin. Kita melihat sejumlah You'repuncak Reading a Preview ] 600 g difraksi. Dengan membandingkan dengan referensi dalam n a powder diffraction file kita meyakini bahwa Unlock material yang full access with a r free trial. 500 a b dibuat benar-benar merupakan Y2O3. m e s400 [ Trial Download With Free t n300 u o C
700 600
200
] g n500 a r a b400 m e s [ 300 t n u200 o C
100 28.0
29.0 29.5 o 2θ [ ] Sign up to vote on this title Gambar 17 Fitting Lorentzian untuk pun Useful Not useful sekitar sudut antara 28,0o hingga 30,5º.
100 0
20
30
40
50
60
70
80
28.5
Yang terpenting bagi kita adalah
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
Search
Home
Saved
0
637 views
Upload
Sign In
Join
RELATED TITLES
0
Macam-Macam Metode Karakterisasi Nanomaterial
Uploaded by Lucky IR
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
m
Save
Embed
Share
Print
Pengantar Nanoteknologi
1
Download
of 9
X-RAY DIFRACTOMETER
Surface Area Analyzer
Search document
J. Nano Saintek. Vol. 2 No. 1, Feb. 2009
Teori ini menjelaskan fenomena adsorpsi molekul gas di permukaan total sample dapat dihitung. Lua permukaan zat padat (melekatnya molekul gas di spesifik sama dengan luas permukaan total permukaan zat padat). Kuantitas molekul gas yang sample. Jadi luas pemukaan spesifik adalah diadsorsi sangat bergantung pada luas permukaan yang dengan m adalah massa sample. dimiliki zat pada tersebut. Dengan demikian, secara tidak langsung teori ini dapat dipergunakan untuk menentukan luas permukaan zat padat. ] Jika zat padat berupa partikel-partikel maka luas 1 ) permukaan untuk zat padat dengan massa tertentu makin P / o besar jika ukuran partikel makuin kecil. Dengan / υ P ) mendefinisikan luas permukaan spesifik sebagai 1 ( c [ perbandingan luas total pemukaan zat padat terhadap υ = ( / n 1 g a massanya maka luas permukaan spesifik makin besr jika n i r i ukuran partikel makin kecil. Metode BET memberikan e m k informasi tentang luas permukaan spesifik zat padat. 1/υ mc Dengan demikian metode ini dapat digunakan untuk memperkirakan ukuran rata-rata partikel zat padat. Untuk material berpori, luas permukaan spesifik ditentukan oleh porositas zat padat. Dengan demikian metode BET juga dapat digunakan untuk menentukan porositas zat padat. Landasan utama teori BET adalah (a) molekul Gambar 18 Tipikal kurva BET. dapat teradsoprsi pada permukaan zat padat hingga beberapa lapis. Teori ini lebih umum dari teori adsorpsi satu la pis molekul dari Langmuir. (b) Juga dianggap Penutup bahwa tidak ada interaksi antar molekul gas yang Sejumlah metode karakterisasi nanom teradsorpsi pada permukaan zat padat. (c) Lalu, teori d ijelaskan. Karakterisasi sangat diperl adsorpsi satu lapis dari Langmuir dapat diterapkan You're untuk Reading a Preview memberi k eyakinan bahwa kita telah berhasi masing-masing lapis gas. Dengan asumsi di atas, BET al dengan struktur nanometer. Karak mendapatkan persmaan umum yang Unlock menerangkan full access with materi a free trial. akan memberikan informasi sifat-sifat mater keadaan molekul yang teradsorpsi pada permukaan zat sifat-sifat tersebut memberi peluang rekay padat. Download With Free Trial dalam skala nanometer untuk menghasilka yang berguna.
1
c − 1 ⎛ P ⎞
⎜⎜ ⎟⎟ + 1 υ [( P υ m c ⎝ P υ m c o / P ) − 1] o ⎠ =
(7) Referensi
dengan P adalah tekanan keseimbangan, P o adalah tekanan saturasi, υ adalah jumlah gas yang teradsopsi, υ m adalah jumlah gas yang teradsoprsi pada satu lapis, dan c adalah konstanta BET yang memenuhi
⎡ E − E L ⎤ c = exp ⎢ 1 ⎣ RT ⎥⎦
(8)
[1] M. A bdullah, T. Isakndar, S. Shibam K. Ok uyama, Acta Materialia, 52, 5151 ( [2] M. Abdullah, F. iskandar, and K. Oku ITB. , 125 (2004). Sign Eng. up to Sci. vote36B on this title [3] M. Abdullah, F. Iskandar, and K. oku Useful Not useful Mater. 14, 930 (2002). [4] Y. Wang and N. Herron, J. Phys. (1991).
Home
Saved
Top Charts
Books
Audiobooks
Magazines
News
Documents
Sheet Music
Upload
Sign In
Join
