Análisis de tamaño de Partículas.docx

UNIVERSIDAD NORBERT WIENER ESCUELA PROFESIONAL DE FARMACIA Y BIOQUÍMICA FACULTAD DE FARMACIA Y BIOQUIMICA TECNOLOGIA FARMACEUTICA PROYECTO DE INVESTIGACION FORMATIVA

TITULO:

Análisis de tamaño de Partículas . Método microscópico.  Aplicaciones farmacéuticas  Análisis de tamaño de partícula. partícula. Método de tamices aplicaciones

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 Análisis de tamaño de Partículas: Método microscópico microscópico 6 de tamices. Aplicaciones I. RESUME RESUMEN N BREVE BREVE "n el análisis del tamaño de partículas eumedad "n el presente tra?a@o se detalla los métodos de análisis de la partícula mediante los métodos microscópico 6 de tamices. #on el método microscópico se o?tienen resultados confia?les para determinar el tamaño de las las partículas con el uso uso de microscopios microscopios ópticos 6 electrónicos. electrónicos. "ste método se ?asa en la medición de las partículas independiente de su forma contra un patr patrón ón de refe refere renc ncia ia para para el tama tamaño ño.. "l tama tamaño ño de part partíc ícul ula a dete detecta ctado do dependerá de la resolución del microscopio lle9ando a ser del orden de ,.,,- a ,.,; M. "n la medición del tamaño 6 la morfolo9ía ea transformado en >erramientas esenciales para la caracteriación de superficies de materiales porEu porEue e posee posee una altísi altísima ma resolu resolució ción n 6 permit permiten en medir medir distin distintas tas propi propieda edade dess superficiales Bma9netismo conducti=idad fueras de ad>esión etc.C en forma local en superficies de muestras muestras no conductoras. conductoras. Asimismo Asimismo el estudio de muestras muestras en estado líEuido o seco a temperatura am?iente sin necesidad de condiciones de =acío. "l método de tamices es uno de los métodos más sencillos para medir el tamaño 6 distri?ución de partículas. #onsiste en >acer pasar -,,9 Bsi el diámetro promedio de partícula esta entre ;,,F-,,,MC del material a tra=és de una serie de tamices circulares de cerca de ), cm. de diámetro 6  cm de alturaG cada uno de diferente tamaño de poro or9aniado desde el más 9rande >asta el más peEueño de manera Eue uno enca@e en el otro >erméticamente para minimiar la pérdida de pol=o. Los Los tamice tamicess de?en de?en Eueda Euedarr aline alinead ados os =ertic =erticalm alment ente e 6 se somete someten n a =i?rac =i?ración ión constante de manera Eue el material pase por todos los tamices 6 al final de la prue?a el material Euede disperso en di=ersas fracciones entre los tamices 6 Eue no más del ;H del material Euede retenido en el más 9rueso 6 no más del ;H pase por el más peEueño. "n 9eneral los ran9os de tamaños de los tamices utiliados oscilan entre %o. ), >asta -;,. "
II. INTROD INTRODUCC UCCION ION "l presente estudio so?re análisis del tamaño de las partículas se reEuiere conocer  prelimin preliminarme armente nte las caracterí característica sticass de determin determinados ados producto productoss Eue dependen dependen fundamentalmente del tamaño de las partículas o la superficie de cada partícula indi=idual indi=idual del material ?ase o la materia prima empleada. Para me@orar la renta?ilidad de un proceso o la calidad del producto es necesario realiar medidas cuantitati=as del tamaño de las partículas por e@emplo en los la?oratorios de control de calidad. "l creciente deseo de optimiar los procesos de fa?ricación o características de los materiales conduce necesariamente al >ec>o de e
II III. I. OBJE OBJETI TIVO VOS S -

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#ontri?uir en el conocimiento de los análisis del tamaño de partículas mediante los métodos de tamices 6 microscópico. microscópico. #onocer los nue=os a=ances de eEuipamiento Eue se utilia para realiar  el análisis del tamaño de partículas mediante los métodos de tamices 6 microscópico.

- 4eterminar Eué 6 cuáles son las técnicas confia?les en los métodos de análisis 6 cuantificación del tamaño de las partículas.

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4eterminar las =enta@as del método microscópico en el análisis del tamaño de las partículas.

IV. IV. DESARROLLO DESARROLLO DEL DEL TEMA EL ANÁLISIS DEL TAMAÑO DE PARTÍCULAS "l tamaño de una partícula puede e
un plano su =olumen o la superficie total de la partícula. !i la forma es c?ica el =alo =alorr repr repres esen enta tatiti=o =o de su tama tamaño ño pued puede e ser ser la lon9 lon9ititud ud del del lado lado el área área pro6ectada el =olumen o la superficie total del cu?o. 4ado Eue los reEuisitos Eue se ean de cumplir los si9uientes reEuisitos: •

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"l proceso del análisis no de?e influir so?re la muestra es decir no de?e contri?uir a una trituración posterior o al tra?a@ar con líEuidos no de?e disol=erla ni >acerla >inc>ar. "n cada análisis >a de Euedar 9arantiado Eue el material a analiar no >a sufrido influencia al9una durante la preparación de la muestra Bpor e@emplo de?ido a a?rasión de los elementos de molienda o calentamientoC. La muestra Eue se >a de analiar de?e ser representati=a es decir el tipo de partícula Eue contiene 6 distri?ución de?e coincidir con el resto del con@unto. la calidad del análisis depende de la toma de muestra. Las mediciones B6 los eEuiposC de?en cumplir con las normas I!O Eue permiten documentar todo el tra?a@o realiado permitiendo la reproducción 6 traa?ilidad de las operaciones. operaciones.  Antes de Eue se pueda recomendar un determinado aparato para la determinación indi=idual del tamaño de partículas se >an de contestar al9unos puntos: -

La totalidad del ran9o de medida de tamaños de partículas Eue se >an de analiar.

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La precisión e
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"l nmero de muestras por día 6 cantidad de muestra.

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La duración necesaria del análisis.

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"l conoci conocimie miento nto de aEuel aEuello loss datos datos so?re so?re los los mater material iales es Eue Eue se nece necesi sita tan n en al9u al9uno noss proc proces esos os de medi medida da para para real reali iar ar la e=aluación.

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La comp compat ati? i?ililid idad ad entre entre las las sust sustan anci cias as sóli sólida dass 6 el líEu líEuid ido o de suspensión en procesos de medida en >medo.

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La to
"l análisis completo del tamaño de partículas puede >acer necesario el empleo de diferentes tecnolo9ías: se9n el tipo de material 6 el tamaño Eue se desee determinar se puede realiar una o?ser=ación microscópica antes del análisis 9ranulométrico. Mediante un fraccionamiento 9ranulométrico se separa la parte

más 9ruesa de una muestra analiándose a continuación el resto mediante procedimientos de sedimentación o difracción. Diámetros equivalentes más usados en análisis granulométrico

DIAMETRO EQUIVALENTE 4iámetro de Jolumen 4iámetro de superficie 4iámetro de área pro6ectada 4iámetro de sedimentación o de !toKes 4iámetro de perímetro 4iámetro de tamiación

DEFINICION 4iámetro de una esfera Eue presenta el mismo =olumen Eue la partícula 4iámetro de una esfera Eue presenta la misma superficie Eue la partícula 4iámetro de una esfera Eue presenta el mismo =alor de área pro6ectada Eue la pro6ección de la partícula. 4iámetro de una esfera de la misma densidad Eue la partícula Eue sedimenta en un fluido a la misma =elocidad Eue la partícula 4iámetro de una esfera cu6a pro6ección presenta el mismo =alor de perímetro Eue la pro6ección de la partícula 4iámetro de la ma6or esfera Eue atra=iesa el mismo tami de la partícula

FASES DE UN ANÁLISIS GRANULOMÉTRICO Una =e esta?lecidas las ?ases en las Eue se fundamenta un análisis 9ranulométrico con=iene tener claro cuáles son las pautas a se9uir para diseñar correctamente un estudio de este tipo. Las fases a se9uir son: -. Búsq!"# "! $%&'()#*$+% $%$*$#,.F "n función de los reEuerimientos 6 finalidad del material en estudio reca?aremos toda la información posi?le como su solu?ilidad purea forma de 9ranulado 9rado de cristalinidad e incluso su to
 Algunas de las formas más frecuentes que podemos encontrar en partículas de uso farmacéutico

Tam?ién se pueden tomar al9unas medidas de las partículas mientras son o?ser=adas en el microscopio.

Para caracteriar el tamaño de una partícula de un sólido pul=erulento no ?asta solo con medir el tamaño de una partícula tam?ién podemos medirlo estadísticamente 6 para ello es til recurrir a una representación 9ráfica de la distri?ución del tamaño de las partículas conocidas como >isto9ramas. "sto nos permite representar las partículas por ran9os de tamaño 6 representarlos en 9ráfico de ?arras donde se puede demostrar una cur=a considerando las alturas de cada ?arra.

"n el caso particular de la industria farmacéutica Eue suele tra?a@ar con muestras or9ánicas Bprincipios acti=os etc.C e inor9ánicas Bcar9as etc.C Eue en al9unos casos no responden a los ra6os  Eue caracterian a al9unos sedimentó9rafos es necesario recurrir a un fotoFsedimentó9rafo es decir un eEuipo Eue utilia la lu =isi?le para la determinación. "n la actualidad los eEuipos Eue tra?a@an por difracción de ra6os láser no presentan este tipo de pro?lemática 6 en la ma6oría de los casos >an reemplaado a los sedimentó9rafos. "umedad. "n el la?oratorio se usan para re9ular la operación de tamiado los métodos: microscópico tamiado sedimentación elutriacion centrifu9ación etc. "n el presente tra?a@o detallaremos los métodos microscópico 6 de tamices. IV.-.

MÉTODOS DE ANÁLISIS MICROSCOPICO "l método microscópico es un método directo de determinación del tamaño de la partícula. 'ásicamente a?arcan a la microscopía óptica BOMC 6 a la microscopía electrónica B"MC 6 permiten la =isualiación directa de las partículas 6 su medición "l ea9a una =aloración de sus dos formas dimensionales. "n 9eneral la tercera dimensión puede apreciarse sólo si se dispone de un microscopio electrónico de ?arrido. Utiliando este método puede o?tenerse un tamaño tan reducido como ,.,,- M. "sta es una ea realiado una correcta dispersión o por el contrario e
La OM con lu ?lanca Blon9itudes de onda del =isi?le entre (,, 6 /,, nmC 6 lentes de refracción de =idrio no es capa de =er partículas menores de ),, nm. 4e?ido al límite de resolución de la OM se >a recurrido al uso de un >a de electrones para poder =isualiar a las partículas peEueñas. "l microscopio óptico más simple es la lente con=easta -; =eces. Por lo 9eneral se utilian microscopios compuestos Eue disponen de =arias lentes con las Eue se consi9uen aumentos ma6ores. Al9unos microscopios ópticos pueden aumentar un o?@eto por encima de las ).,,, =eces. "l microscopio compuesto consiste en dos sistemas de lentes el o?@eti=o 6 el ocular montados en eumano. IV.-.0. MICROSCOPIA ELECTRONICA "l microscopio electrónico utilia un fino >a de electrones acelerados Eue al impactar con la muestra 9enera una serie de señales directamente relacionadas con la estructura atómica del o?@eto in=esti9ado. "stas señales se seleccionan por separado para 9enerar distintos tipos de imá9enes 6 o?tener datos analíticos. "n el Microscopio "lectrónico de Transmisión los electrones transmitidos con 6 sin dispersión se utilian para crear imá9enes de transmisión con=encionales de campo oscuro 6 alta resolución re=elando la estructura interna de las muestras tamaño 6 distri?ución de partículas su red cristalina interfases 6 defectos puntuales de la red atómica etc. Los ra6os  9enerados son utiliados para estudiar la composición Euímica de la muestra pudiendo analiar aisladamente onas de mu6 pocas micras e incluso nanométricas. &inalmente mediante la difracción de electrones Belectrones dispersados elásticamenteC puede >acerse un detallado estudio cristalo9ráfico del material in=esti9ado.

Los microscopios de transmisión tienen una capacidad de resolución de >asta ,.)2 nanómetros entre puntos 6 ,.-( nanómetros entre líneas lo Eue permite aplicarlo en mltiples campos de in=esti9ación: ?iolo9ía =e9etal nue=os materiales medicina farmacolo9ía arEueolo9ía control de calidad in=esti9ación forense catálisis com?usti?les fósiles ener9ía solar ?iode9radación de materiales etc. Asimismo caracteriación de materiales a=anados en el campo de la nanociencia 6 la nanotecnolo9ía Bnanofi?ras nanotu?os partículas coreFs>ell capas del9adas materiales nanoestructurados etcC. La microscopía electrónica BT"M !"MC es la técnica más directa utiliada para determinar tamaño 6 morfolo9ía de partículas permitiendo la inspección =isual de las mismas. !e la utilia para e=aluar 6 cali?rar otras técnicas.

TIPOS DE MICROSCOPIA ELECTRONICA #. M$*('s*'12# !,!*3(+%$*# "! 4#(($"' S.E.M./ La Microscopía "lectrónica de 'arrido B!"M del in9lés !cannin9 "lectrón Microscop6C a9rupa un con@unto de técnicas Eue permiten la caracteriación morfoló9ica estructural 6 de composición de superficies sólidas mediante imá9enes con diferente 9rado de resolución. Mediante el Microscopio "lectrónico de 'arrido son adEuiridas imá9enes de la superficie de una muestra a partir de su interacción con un >a de electrones enfocado so?re la misma. "sta interacción puede dar lu9ar a diferentes tipos de respuestas del material analiado en función de la ener9ía del >a de electrones incidente 6 las características de la propia muestra.

Para las imá9enes !"M se usan los electrones secundarios resultantes de las interacciones del >a con la muestraG en este caso la ener9ía oscila entre ; 6 ;, KeJ. Los eEuipos de !"M son capaces de conse9uir aumentos desde ), >asta -,; dando imá9enes con una 9ran profundidad de campo de modo Eue proporcionan una =aliosa información so?re la te
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"lectrones secundarios !" ea de electrones incidente ofreciendo información so?re la morfolo9ía superficial de la muestra. "lectrones retrodispersados '!" Eue son refle@ados elásticamente por los átomos de la muestra 6 dan información so?re la distri?ución de elementos Euímicos en la misma. &otones con ener9ías en el ran9o de los *a6os  6 Eue son característicos de los átomos del material ?a@o estudio B"spectroscopia conocida como: "ner9ía 4ispersi=a de *a6os  "4C. "sta radiación es producida por el retorno a su estado de eEuili?rio de átomos pre=iamente ea de electrones mu6 ener9ético. &otones con ener9ías en el ran9o =isi?le del espectro resultantes de la recom?inación de pares electrón  >ueco Eue >an sido pre=iamente creados por la incidencia del >a de electrones so?re la muestra. "sto ltimo es el fundamento de la #átodo luminiscencia Eue permite el análisis de la composición local identificación de estructuras de ?andas 6 detalles so?re el crecimiento de las muestras.

La !"M se aplica en: •

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#iencia de Materiales: estudio de semiconductores polímeros cerámicas aleaciones láminas del9adas etc. 0eolo9ía 6 Petro9rafía: estudio morfoló9ico estructural 6 análisis Euímico de las muestras. Paleontolo9ía 6 ArEueolo9ía: estudio morfoló9ico e identificación analítica. 4eterminación de la le6 en monedas: análisis de la composición 6 a?undancia relati=a. *estauración: estudio de pi9mentos pictóricos te
Los tipos de ensa6o so?re el estudio composicional 6 de superficie de las muestras Eue puedan entrar en la cámara del microscopio son: • •

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"studio morfoló9ico de diferentes tipos de muestras secas. "studio composicional cualitati=o semicuantitati=o 6 cuantitati=o mediante "4. "studio de composición de superficies 6 tamaño de 9rano. *ealiación de mapas de distri?ución elemental de los diferentes componentes de las muestras. "nsa6o de #atodoluminiscencia Metaliación de muestras con oro 6 cromo.

 Algunas ventajas y limitaciones de la microscopía electrónica de barrido

V!%3#5#s &acilidad de mane@o "le=ada resolución  Amplia profundidad Posi?ilidad de com?inar microscopia con análisis espectroscópico

L$)$3#*$'%!s Las muestras de?en de ser metálicas o cu?iertas de oro. Posi?le daño en el material %ecesita =acío  Alto costo

4. M$*('s*'12# !,!*3(+%$*# "! 3(#%s)$s$+% T.E.M./ La Microscopía electrónica de transmisión T"M del in9lés NTransmission "lectrón Microscop6. Los microscopios electrónicos más sencillos constan de dos lentes formadoras de la ima9en de forma mu6 parecida a los microscopios ópticos con=encionales. La iluminación pro=iene de un cañón de electrones emitidos por un filamento de  o La'D. Los electrones son acelerados al aplicar un potencial ne9ati=o B-,, KJ F -,,, KJC 6 focaliados mediante dos lentes condensadoras so?re una muestra del9ada transparente a los electrones. 4espués de pasar a tra=és de la muestra los electrones son reco9idos 6 focaliados por la lente o?@eti=o dentro de una ima9en intermedia ampliada. La ima9en es ampliada an más 9racias a las lentes pro6ectoras las cuales controlan la ampliación de la ima9en en la pantalla fluorescente. La ima9en final se pro6ecta so?re una pantalla fluorescente o una película foto9ráfica. Un T"M de dos lentes puede lle9ar a aumentar la ima9en alrededor de -,,, =eces. "l poder de resolución podría lle9ar >asta ; nm siempre 6 cuando se consi9uiera aumentos de Q;,.,,, lo Eue es posi?le utiliando un =idrio de aumento so?re la ima9en fluorescente en el microscopio o un incremento foto9ráfico de la ima9en re9istrada en la película.

Los microscopios de 9ran resolución Btres lentes 9eneradoras de ima9enC son capaces de ampliar la ima9en >asta ;,,.,,, =eces 6 tienen poderes de resolución de unas fracciones de nm. %ormalmente poseen aumentos de entre Q-,,, F Q),,.,,, ó de Q);,, F Q;,,.,,,. M'"'s "! &'()#*$+% "! ,# $)#6!%: ea transmitido Eue no >a sufrido dispersión entonces la ima9en del o?@eto es oscura so?re un fondo ?rillante. !i por el contrario se utilian los electrones dispersados en este caso la ima9en aparece ?rillante so?re un fondo oscuro. Por ello estas dos técnicas se denominan formación de ima9en en campo claro 6 en campo oscuro respecti=amente la primera es la más utiliada.

Por otra parte con este microscopio se puede o?tener un dia9rama de difracción de la muestra lo Eue nos aporta una =aliosa información so?re la estructura cristalina de la misma. "sto es posi?le si >acemos incidir el >a de electrones so?re un cristal con un án9ulo capa de satisfacer la le6 de 'ra99 para una determinada distancia entre planos atómicos d>Kl. Ra Eue la lon9itud de onda de los electrones es mu6 peEueña ese án9ulo tam?ién lo es por lo Eue el >a de?e incidir  prácticamente paralelo a los planos reticulares. "l dia9rama de

difracción está formado por los puntos de corte de los >aces difractados 6 transmitido con el plano de la pantalla. *epresenta por  tanto la sección de la red recíproca del cristal en el plano normal al >a de electrones.

La posi?ilidad de com?inar la difracción de electrones con los distintos modos de formación de la ima9en >ace del microscopio de transmisión una de la me@ores >erramientas en el estudio de la red cristalina 6 sus defectos. "l T"M permite caracteriar la morfolo9ía de nanopartículas Btamaño dimensiones 6 posición de las mismasC proporcionar información so?re la estructura cristalo9ráfica de los materiales in=esti9ados ?ien mediante imá9enes de alta resolución o mediante métodos de difracción de electrones 6 determinar la composición Euímica a ni=el local mediante espectroscopía de ener9ía dispersi=a de *a6os . V!%3#5#s7 - "l uso de lon9itudes de onda mu6 peEueñas permiten o?ser=ar  detalles Ben escala nanométricaC. - !e puede o?tener información de la estructura interna de las partículas porEue los electrones Npenetran a los polímeros. - !e pueden utiliar técnicas de teñido Bpositi=o 6 ne9ati=oC para me@orar el contraste. D!s8!%3#5#s7 - "l >a de electrones puede Ndestruir a las muestras de polímeros causando Ndepolimeriación 6 Ne=aporación ?a@o las condiciones de alto =acío del microscopio. Las mediciones de tamaños se de?en >acer tomando ciertas precauciones Eue e=iten la contracción. - Los polímeros or9ánicos no tienen muc>a Ndensidad de electrones 6 por ello las muestras mu6 del9adas 6 las partículas de polímero mu6 peEueñas son difíciles de =er. !e reEuiere utiliar  tratamientos especiales: Nstainin9 Ns>adoSin9.

*. M$*('s*'12# !,!*3(+%$*# "! 4#(($"' "! !&!*3' *#)1' F.E.S.E.M./ "l microscopio electrónico de ?arrido de emisión de campo B&"!"MC es un instrumento Eue al i9ual Eue el !"M es capa de ofrecer una amplia =ariedad de información procedente de la superficie de la muestra pero con ma6or resolución 6 con un ran9o de ener9ía muc>o ma6or. "l funcionamiento es i9ual al de un !"M con=encionalG se ?arre un >a de electrones so?re la superficie de la muestra mientras Eue en un monitor se =isualia la información Eue interesa en función de los detectores disponi?les. La ma6or diferencia entre un &"!"M 6 un !"M reside en el sistema 9eneración de electrones. "l &"!"M utilia como fuente de electrones un cañón de emisión de campo Eue proporciona >aces de electrones de alta 6 ?a@a ener9ía mu6 focaliados lo Eue me@ora nota?lemente la resolución espacial 6 permite tra?a@ar a mu6 ?a@os potenciales B,.,) F ; KJCG esto a6uda a minimiar el efecto de car9a en especímenes no conductores 6 a e=itar daños en muestras sensi?les al >a electrónico. Otra característica mu6 destaca?le de los &"!"M es la utiliación de detectores dentro de la lente Bin lensC. "stos detectores están optimiados para tra?a@ar a alta resolución 6 mu6 ?a@o potencial de aceleración por lo Eue son fundamentales para o?tener el máasta -,, mm de diámetro. "l dispositi=o tiene una fuente de electrones cónica com?inada con unas lentes condensadoras lo Eue da una alta esta?ilidad al sistema ópticoFelectrónico.

". M$*('s*'12# "! &!(9# #3+)$*# A.F.M./ La microscopía de fuera atómica BA&MC se >a transformado en >erramientas esenciales para la caracteriación de superficies de materiales. La A&M posee una altísima resolución 6 permiten medir  distintas propiedades superficiales Bma9netismo conducti=idad fueras de ad>esión etc.C en forma local en superficies de muestras no conductoras BA&MC. La A&M fue desarrollada a partir de -7/D 6 se está utiliando para la caracteriación de o?@etos a nanoescala. La misma >a lo9rado resol=er al9unas de las des=enta@as de la "M dado Eue permite estudiar muestras en estado líEuido o seco a temperatura am?iente sin necesidad de condiciones de =acío 6 siendo simple la preparación de la muestra. Además el sistema se puede termostatiar entre temperatura am?iente 6 );, # permitiendo in=esti9ar muestras ?ioló9icas Bcélulas proteínas A4%C. !e puede o?tener medidas de ru9osidad superficial altura de capas o defectos como la forma 6 la distri?ución de los o?@etos o estructuras encontradas en la superficieG 6 determinar contraste de materiales de diferente naturalea a tra=és de las medidas de fase. Los componentes de un eEuipo de A&M inclu6en una palanca fle
Lo microscopios de A&M operan detectando midiendo o controlando las fueras entre la punta 6 la superficie utiliando para la e=aluación las fueras de interacción entre dos sólidos a distancias peEueñas 6 el denominado potencial de LennardF+ones. Así a partir del mismo se determina el contacto entre punta 6 superficie. 4istancias más peEueñas Eue esta define el ré9imen de A&M modo contactoG 6 le@os del contacto el ré9imen de A&M noFcontacto. Las cur=as de fuera re9istran la defleesión durea 6 deformación plástica eace incidir so?re el mismo un >a de lu láser cu6o refle@o se o?ser=a en un detector  fotoeléctrico se9mentado. Los cam?ios producidos en el =olta@e detectado permiten conocer en todo momento la ma9nitud de la defleec>o Eue punta 6 muestra estén en permanente contacto con=ierte a esta =ariante de A&M en un método mu6 in=asi=o >aciendo Eue las muestras mu6 delicadas resulten fácilmente dañadas 6o arrastradas por la punta. Para e=itar los efectos in=asi=os del A&M de contacto sur9ieron los modos dinámicos en los Eue no e  se emplea la amplitud de la oscilación del cantilé=er como señal de realimentación. E, )'"' "! )'",#*$+% "! &(!*!%*$# FM;AFM/ ' "! %';*'%3#*3' NCAFM/ emplea la frecuencia de oscilación como señal de realimentación.

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IV.-.?. A1,$*#*$'%!s &#()#*',+6$*#s "!, )@3'"' )$*('s*+1$*' La distri?ución de tamaños de partícula BP!4C es una característica física de 9ran importancia en sistemas coloidales particulados tales como aerosoles emulsiones suspensiones dispersiones pol=os etc. "l comportamiento reoló9ico 6 la esta?ilidad Euímica de emulsiones 6 dispersiones los procesos de coa9ulación las =elocidades de reacción 6 difusión 6 ciertas propiedades ma9néticas 6 ópticas son influenciados por  la P!4. IV.0.

MÉTODO DE TAMICES "l tamiado es un método físico para separar meclas. #onsiste en >acer pasar  una mecla de partículas sólidas de diferentes tamaños por un tami o colador. Las partículas de menor tamaño pasan por los poros del tami atra=esándolo 6 las 9randes Euedan retenidas por el mismo. La real farmacopea para la descripción de la finura de los diferentes pol=os Eue se determina por tamiado indica Eue se define en función del nmero o nmeros de tami o tamices utiliados. Clasificación de polvos respecto al tamaño de partículas por tamizado según la eal  !armacopea"

D!s*($1*$+%

Pol=o 9rueso Pol=o moderadamente fino Pol=o fino Pol=o mu6 fino

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Por otra parte esta separación suele constituir en un método de análisis físico tanto para el control de la eficacia de otras operaciones ?ásicas tales como la trituración 6 la molienda como para determinar el =alor del producto para al9unas de sus aplicaciones específicas. Por e@emplo en las transacciones de car?ón el tamaño de las partículas constitu6e la ?ase para su clasificación 6 =enta. Al9unos aparatos industriales como los alimentadores mecánicos empleados en las calderas de =apor reEuieren límites definidos de tamaños para su correcto funcionamiento. "l tamiado en seco se aplica a materiales Eue contienen poca >umedad natural o Eue fueron desecadas pre=iamente. "l tamiado >medo se efecta con adición de a9ua al material en tratamiento con el fin de Eue el líEuido arrastre a tra=és del tami a las partículas más finas. "l material Eue no atra=iesa los orificios del tami se desi9na como rec>ao o fracción positi=a 6 el Eue lo pasa se llama tamiado o fracción ne9ati=a.

Utiliando más de un tami se producen distintas fracciones de tamiado 6 pueden desi9narse se9n los tamaños de los orificios o se9n el nmero de mallas por unidad de superficie utiliados en la separación.  

OBJETIVOS Los procesos de tamiación tienen como o?@eti=o: #aracteriar el tamaño de las partículas de un sólido pul=erulento por  ello la tamiación se utilia como técnica de análisis 9ranulométrico O?tención de distintas fracciones de solido pul=erulento caracteriadas por un tamaño de partículas ?ien definido 6 mu6 uniforme. "sta uniformidad es mu6 importante para determinar tipos de meclas de sólidos resulten esta?les. "liminación de aEuellas partículas Eue por su tamaño puedan dificultar  su manipulación 6 deteriorar ciertas propiedades. •

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CONSIDERACIONES • • • • • •

Irre9ularidades en la malla del tami  Ad>erencia del material a tamiar. 1umedad #ar9as electrostáticas Lu del tami Tiempo del proceso

IV.0.-. E, #%:,$s$s "! ,#s 1#(32*,#s 1'( !, )@3'"' "! 3#)$*!s "ste es un método simple transporta?le económico 6 ampliamente utiliado para clasificar pol=os de acuerdo con su tamaño físico solamente independientemente de otras características físicas o Euímicas. !e utilia una serie de alam?res entrete@idos o un cernidor cu6o calado esta ordenado en orden de tamaño decreciente. "l tamiado se puede >acer en forma manual o por a9itación mecánica. Las =aria?les Eue pueden influir  en el resultado inclu6en la presencia de partículas finas la car9a inicial el tiempo 6 método de a9itación 6 el a9re9ado del pol=o. La reproduci?ilidad es 9eneralmente po?re de?ido a esas =aria?les. !e de?en secar  pre=iamente las muestras de cenias en un >orno Ba no más de (,X# durante )( >orasC lue9o de?en cernirse a un inter=alo menor de D2 m B(&C B=er la "scala p>i en el Apéndice 2C. !i se usa en con@unto con el análisis por difracción con láser las muestras necesitan ser cernidas a solo ) mm. #onsiste en pasar las muestras de las partículas de modo sucesi=o por  una serie de tamices o cedaos Eue poseen orificios o mallas Eue si9uen una pro9resión 9eométrica 6 se encuentran estandariados. "l material Eue pasó a tra=és de un tami 6 >a sido retenido por otro porEue sus orificios son de menor tamaño Eue el anterior suele considerarse como de tamaño i9ual a la medida aritmética de las a?erturas de am?os tamicesG este =alor representa el tamaño medio o diámetro medio 6 se representa por el sím?olo 4m. Una =e Eue se esta?lece la torre de tamices se colocan en un eEuipo Eue a9ita el con@unto de tamices por el tiempo Eue se desee o la técnica reEuiera. "n 9eneral si se car9a más masa ma6or  tiempo de tamiado será reEuerido.

"sta técnica es adecuada para el análisis de partículas Eue se encuentren el ran9o de -); mm a ), Ym. Para las operaciones Eue no están destinadas al análisis pueden utiliarse tamices con mallas circulares cu6o diámetro interior se i9ual a -); =eces la apertura de las mallas del tami de mallas cuadradas correspondiente. "ilos consecuti=os suponiendo Eue estos son i9uales 6 circulares BLC %iámetro de &ilo$ BdC  Anc&ura de malla$ 4istancia entre el centro de un >ilo 6 el centro del >ilo si9uiente BmC m Z L[d 'uperficie útil de tamiz$  BKC. K Z BL)  m )C (umero de tamiz$ nmero de >ilos BorificiosC por unidad de lon9itud. #ada >ilo es i9ual a L [ d. BU!PC n Z \- BL [ dC]. • 

•  • 

•  • 

Características de un tamiz d, diámetro de hilo; L, apertura de malla: m, anchura de malla

IV.0.0. E, 3#)#' "! ,# ,9 "! )#,,# !e entiende por lu de malla la distancia del lado de cada cuadrado li?re Eue forma el te@ido de una malla cuadrada o el diámetro de los orificios de una planc>a cri?ada con a9u@eros circulares. AEuí nos referiremos solamente a las mallas >ec>as con alam?res Eue forman a9u@eros cuadrados es decir lo Eue comnmente se llama ^malla cuadrada_. !e necesitan dos parámetros para definir una mallaG uno es la lu de malla 6 la otra la superficie a?ierta Eue se mide como la proporción de la superficie total de la malla Eue Eueda li?re o sea Eue no forma parte de la estructura de >ilos o alam?res en la Eue se marca con anaran@ado la lu de malla. 4e esa forma lo Eue se define como ^nmero de malla_ Eue en estos tamices normaliados se denomina ^nmero de mes>_ utiliando la pala?ra mes> Eue si9nifica malla en in9lés es la cantidad de >ilos por  pul9ada lineal Eue tiene la malla pero manteniendo constante la superficie a?ierta Eue en A!TM es del D,H. "s decir Eue cuanto más 9rande es el mes> más finos de?erán ser los >ilos. Una descripción típica de un tami puede ser la si9uiente: % (, B(); mC %ormaliado (); m. Jariación permitida de a?ertura promedio `-7

m. Tolerancia permitida no más del ;H de la a?ertura nominal: (- m. 4iámetro nominal de alam?re: ,)/ mm.

IV.0.?. E,!**$+% "! % 3#)$9 "asta los menores de ),, mallas. Para poder ele9ir el tami necesario 6 para optar por al9una opción en caso de no poder conse9uir o no e 6 la apertura de malla en tres sistemas distintos de normas utiliados internacionalmente. La norma A!TM correspondiente a los tamices es la "   -- 6 la I!O es la 22-, F - A!TM son las si9las de American !ociet6 of  Testin9 Met>ods. "n in9lés se usa el término test_ para el con@unto de conceptos Eue llamamos ^análisis_ ^determinación_ 6 ^ensa6o_.  Análisis es la separación de una muestra en todos sus componentes determinación se refiere a uno solo de ellos 6 ensa6o es una prue?a Eue se le >ace a un material para medir sus propiedades. Por e@emplo se puede >acer la determinación de fósforo Eue contiene un fertiliante el análisis de todos los componentesG fósforo nitró9eno insolu?les etc. 6 ensa6ar su disolución en un sustrato a lo lar9o del tiempo.

La serie de tamices estandariados usados para la medición del tamaño 6 distri?ución de las partículas se encuentran en un ran9o mu6 amplio de tamaño. Las a?erturas son cuadradas 6 se identifican por un nmero Eue indica la cantidad de a?erturas por  pul9ada cuadrada. Las series normaliada de tamices más utiliadas son las si9uientes: -  A&%O*BfrancesaC - 4I%BalemanaC - U%IBitalianaC - TRL"* 6 A!TM BnorteamericanasC La serie de Tamices T6ler se ?asa en la a?ertura del tami ),, esta?lecida en ,,,(cm 6 enuncia Eue el área de la a?ertura del tami superior es e
T#)$9 "! !%s#' *'% (!4'("! altura til ínte9ra

Diámetro

203 D

100 150 200

(mm)

:

250 300 305 315 350 400 ≈8"

Altura útil (mm)

H

45

50 50

50

55

60

60

75

60

65

T#)$9 "! !%s#' *'% (!4'("!  altura til reducida  Acero &ino Ino
Modelo Especial de amiz de Ensa!o "   #ntigua $eneraci%n  para la tamizadora por  c&orro de aire Alpine )**  #'  Acero !ino +no,idable y  #atón$ 200

25 

Diámetro

D

200

203~8"

300

mm

 Altura útil

H

32

32

30

mm

amiz de ensa!o con marco liso  Acero fino ino,idable- especialmente para el tamizado ultrafino$$ Diámetro

D

76~3"

mm

 Altura útil

H

22

mm

amiz de ensa!o con marco de #lumino!  con fondo de tamiz intercambiable" +ndicado para ./# 01* y 23# 0**   Acero fino ino,idable- especialmente para el tamizado ultrafino$$ Diámetro

D

315

400

mm

 Altura útil

H

62

65

mm

 #rtesa &ntermedia, marco de tamiz con fondo ciego

 Acero fino ino,idable$ Diámetro

D

200

203~8"

300

400

mm

 Altura útil

H

50/32

50/32

60

65

mm

#atón$ Diámetro

D

200

203~8"

300

400

mm

 Altura útil

H

50/32

50/32

60

65

mm

 #nillo &ntermedio- marco de tamiz sin fondo  Acero fino ino,idable$ Diámetro D 100 150

200

203≈8" 250

300

305 315 350 400

(mm)

 Altura H

45

50 50/32

50

55 60/30 60

75

60

65  

útil (mm)

#atón$ Diámetro

D

200

203~8"

300

305~12"

400

mm

 Altura útil

H

50/32

50/32

60

65/50

65

mm

 #rtesa de tamiz - para recoger el material tamizado  Acero fino ino,idable$ Diámetro

203 D 76 100 150

200

(mm)

250 300 305 315 350 400 ≈8" 

 Altura útil  H 16 4 5

50 5 0/25 50/25 5 5

60

50

60

60

65  

(mm)

#atón$ Caja colectora de madera de &aya 4sin ilustración5$ Dimenione

!An

300300

500500

mm

 Altura útil

H

80

80

mm

IV.0.. TAMICES INDUSTRIALES DE ENSAYO Los tamices industriales son construidos con precisión intercalando la malla metálica entre dos marcos formados por troEuelado amorti9uado. "
T#)$*!s "! !%s#' *'% )#,,# )!3:,$*# Tamices de ensa6o con fondos de malla metálica con luces de malla de ), m a -); mm. Las mallas metálicas siempre tienen mallas cuadradas. Los tamices de ensa6o pueden utiliarse para tamiados manuales 6 para tamiados mecánicos en casi todas las tamiadoras de la?oratorio con=encionales. Los tamices de ensa6o de?en tener las si9uientes características: • • •

!uperficie de marco lisa Eue e=ita la contaminación cruada Lar9a =ida til de los tamices "
T#)$*!s "! !%s#' *'% 1,#*#s 1!(&'(#"#s

Los tamices de ensa6o con placas con perforaciones cuadradas se utilian con anc>uras de a9u@ero de ( mm a -); mm. Las placas con perforaciones cuadradas acreditan su eficacia especialmente en la 9ama 9ruesa a partir  de -D mm de anc>ura nominal. Para el tamiado de áridos para >ormi9ón piedras para la construcción de carreteras piedra natural 9ra=a 9ui@arros etc. se utilian principalmente tamices de ensa6o con placas con perforaciones cuadradas. "stos tipos de tamices con placas ranuradas conforme a la norma I!O ;))2 se utilia especialmente para el ensa6o de cereales. T#)$*!s "! !%s#' *'% ,:)$%# "! 3#)$9#"' !,!*3('&'()#"#

Los tamices de ensa6o con láminas de tamiado electroformadas se utilian principalmente con anc>uras de a9u@ero de ; m a -,, m. "stán estandariados >asta una anc>ura de a9u@ero de ;,, m. !on eos.

T#)$*!s "! !%s#' *'% 3',!(#%*$#s (!"*$"#s

Tamices de ensa6o con tolerancias reducidas en un ;,H con respecto a la norma 4I% I!O 22-,F-. T',!(#%*$#s 1#(# T#)$*!s "! E%s#'

R: Tolerancia para el promedio aritmético a partir de la suma de todas las luces de malla BSC medidas e=aluada por separado para las direcciones de urdim?re 6 de trama. : Tolerancia para =alores indi=iduales de todas las luces de malla BSC medidas. %in9n =alor indi=idual medido en urdim?re o trama de?e superar  el =alor . T#)$*!s *'% 4#((#s *$,2%"($*#s 1#(#,!,#s

Los tamices de ?arras se utilian para determinar el índice de la@as de áridos. Los tamices de ?arras consisten en un marco de aluminio de 2,, < 2,, < ; mm. Las ?arras cilíndricas paralelas utiliadas son de acero fino inoos casos se reduce el tiempo de tamiado. Las tamiadoras de ensa6o con accionamiento electroma9nético carecen de pieas 9iratorias son mu6 ro?ustas no reEuieren mantenimiento son silenciosas 6 de aplicación =ersátil. "l sistema de muelles especial 6 el uso de pieas coladas confieren a la construcción una 9ran esta?ilidad lo cual e=ita la transmisión de =i?raciones indeseadas a las pieas fi@as de la tamiadora de ensa6o 6 a su superficie de apo6o. Las tamiadoras de ensa6o imitan el mo=imiento circular 6 de 9olpeo del tamiado manual con un mo=imiento mecánico uniforme 9arantiando así ensa6os fia?les 6 compara?les. !on accionadas por un electromotor  mediante en9rana@e >elicoidal.

P#(# !, 3#)$9#"' !% s!*' ' !% ú)!"'

1AJ"* "ML ),, di9ital plus T

1AJ"* "ML ),, di9ital plus %

La 1AJ"* "ML ),, di9ital plus 9arantia en =irtud de su diseño un mo=imiento de tamiado tridimensional óptimo 6 además cuenta con una

re9ulación de amplitud automática con medición permanente de la aceleración de toda la torre de tamiado. "ste tipo de re9ulación de la amplitud compensa por completo las =i?raciones in>erentes de las tamiadoras 6 del suelo. "sto 9arantia una amplitud constante independientemente de la cantidad alimentada 6 del lu9ar de instalación. Para el tamiado en >medo la "ML ),, di9ital plus está pro=ista de una unidad de mando aparte 6 enc>ufes con=enientemente prote9idos contra el a9ua. *esumen de características de la "ML ),, di9ital plus: -

re9ulación automática de la amplitud mo=imiento de tamiado tridimensional por mando forado re9ulación totalmente electrónica indicaciones di9itales para todas las funciones función de memoria para -, pro9ramas de tamiado práctico panel frontal con pulsadores accionamiento electroma9nético 2.,,, impulsos por minuto B;, >erciosC funcionamiento intermitente o continuo para tamices de ensa6o de >asta ),2 mm de diámetro peso má
4atos técnicos: Tensión de red: )2, J ;,FD, 1 o --, J ;,FD, 1  Amplitud: #onstante con re9ulación automática apro<. 2, mm má *elo@ pro9ramador: ,F77 minutos o funcionamiento continuo #onsumo de corriente: -/; =oltamperios "misión de ruido: / d' Peso: apro<. 2( K9 #olor: *AL 7,-, ?lanco puro sólido P#(# !, 3#)$9#"' !% s!*' ' !% ú)!"'. C,#s! "! 1('3!**$+% IP /

La tamiadora de ensa6o UL (,, es la tamiadora 1AJ"* más potente. #on su accionamiento deseEuili?rado crea las condiciones para unos efectos de tamiado óptimos incluso con 9randes cantidades de material. Tam?ién esta tamiadora de ensa6o 9enera un mo=imiento de tamiado tridimensional 6 de?ido a su 9ran rendimiento se utilia mu6 frecuentemente para el tamiado de materiales de 9rano 9rueso. P#(# 3#)$*!s *'% 4'("! "! )#"!(#

La UL (,, está disponi?le además de en la =ersión estándar con dispositi=os para el tamiado en >medo Bclase de protección IP ;(C como UL (,, % para el uso de tamices con ?orde de madera como UL (,, 1 6 tam?ién como UL (,, "< prote9ida contra e
mo=imiento de tamiado tridimensional re9ulación totalmente electrónica accionamiento mediante ) motores deseEuili?rados trifásicos nmero de re=oluciones -.;,, rpm unidad de mando aparte para posi?ilitar el monta@e en pared

-

para tamices de ensa6o de >asta (,, mm de diámetro peso má<. de la torre de tamiado ;, K9 Bapro<. ), K9 de material a tamiarC

4atos técnicos: Tensión de red: )2, J ;, 1 *elo@ pro9ramador: ,F;77 minutos #onsumo de corriente: ) < )2; Z (, =oltamperios "misión de ruido: Z, d'A Peso: apro<. -7, K9 T#)$9#"'(# "! !%s#' 3,!( (';3#1 -0K (;? )'"!,' 4

"sta tamiadora de ensa6o imita el mo=imiento circular 6 de 9olpeo del tamiado manual con un mo=imiento mecánico uniforme 9arantiando así ensa6os fia?les 6 compara?les. "s accionada por un electromotor  totalmente cerrado dispuesto =erticalmente mediante un en9rana@e >elicoidal. T#)$9#"'(# "! !%s#' 3,!( (';3#1 $$ (;. P#(# !, 3#)$9#"' !% s!*'.

"sta tamiadora de ensa6o imita el mo=imiento circular 6 de 9olpeo del tamiado manual con un mo=imiento mecánico uniforme 9arantiando así ensa6os fia?les 6 compara?les. !on accionadas por un electromotor  mediante en9rana@e >elicoidal. - ) @ue9os de tamices D tamices de ensa6o normales o -2 de media altura / Z b ),2 mm o b ),, mm 6 una artesa de tami - Material a tamiar: má<. D K9 Ben función del peso específico aparente 6 del =olumen de residuos de tamiado má<.C 4atos técnicos:

Tensión de red: )2, =oltios ;, >ercios o --, =oltios D, >ercios *elo@ pro9ramador: , F 77 minutos F di9ital *e=olucionesmin: )/ ` -, Impulsos de 9olpeomin: -;, ` ; "misión de ruido: /D d'A Peso: apro<. -,, K9 4imensiones: ;, < D/, < ;D, mm BAn < P < AlC "
.

.

#on la finalidad de o?tener más de una fracción 9ranulométrica podemos Tra?a@ar con =arios tamices a la =e con distinta lu de malla permitiendo. O?tener así un ma6or nmero de cernidos -. T#)$*!s !% *#s*#"# La disposición de tamices analíticos en cascada con el fin de o?tener  diferentes facciones en peso de nuestro material constitu6e una de las técnicas más anti9uas pero >asta >o6 mu6 usadas 9racias a su sencille 6 su capacidad para analiar partículas de 9ran tamaño además es un método relati=amente económico en comparación con otras técnicas. !e coloca los tamices uno encima de otro dispuestos en orden decreciente de lu de malla. "l producto entra en contacto primero con el tami de ma6or apertura 6 finalmente con el de menor apertura. 4e tal forma Eue al utiliar Nn tamices o?tenemos Nn [ - fracciones 9ranulométricas un rec>ao 6 Nn cernidos !e procede de la si9uiente manera: #olocar el producto ?ruto en el tami de malla ma6or el superior. "l cernido del primer tami actuará de ?ruto del se9undo tami. "l cernido del se9undo tami actuará de ?ruto del tercer tami 6 así sucesi=amente. • • •

.squema de un tamiz en cascada

1a?itualmente estos sistemas en cascada utilian mecanismos =i?ratorios para promo=er el paso de las partículas por los distintos tamices. 0. T#)$*!s !% s!($! ' !% ,2%!# !e colocan los tamices en serie uno al lado del otro si ?ien en este caso el primer tami es el de menor lu de malla 6 los demás =an en orden creciente. "l procedimiento es el si9uiente: #olocar el producto ?ruto en el primer tami 6 se produce la separación del cernido 6 el rec>ao o 9rueso. "l 9rueso del primer tami se empleará de ?ruto para el se9undo tami. "l 9rueso del se9undo tami se empleará de ?ruto para el tercer  tami 6 así sucesi=amente. Los sistemas en línea a =eces se emplean para tamiaciones en >medo por lo Eue se resuspende el pul=eriado en un =e>ículo se repite el proceso =arias =eces finalmente se reco9e el producto 6 se deseca. •

•

•

.squema de un sistema de tamices en línea

?. T#)$9 R'3#3'($' !on similares a los tamices en cascada con la peculiaridad de Eue la lu de la malla se encuentra en la superficie del tami 6 el tami 9ira constantemente li9eramente inclinado. "n la parte superior se encuentra el tami con lu de malla menor 6 en el inferior el tami con la lu de malla ma6or el producto entra por la parte superior  .squema de un sistema de tamices rotatorios

IV.0.. OTRAS TAMIHADORAS T#)$*!s "! s#*"$"#s ' "! 8#$8@% Muc>as separaciones de tamaño en las Eue el producto puede ir desde un tamaño de -); mm >asta el más fino Eue puede mane@ar los tamices pueden efectuarse por medio de tamices planos o li9eramente inclinados a los Eue se les da un mo=imiento alternati=o. "s posi?le una amplia =ariedad de construcciones pero la ma6or parte de ellos son mu6 sencillos. Los tamices de este tipo están construidos con elementos mecánicos sencillos. La armadura es de an9ulares 6 =a suspendidas por  ?arras portantes Eue pueden mo=erse li?remente. !e sacude por medio de una earse directamente a la estructura o puede soldarse so?re una estructura li9era recar9a?le Eue se su@eta en su posición. Otro método de colocación es disponer un án9ulo li9ero Eue pueda su@etarse al interior de la estructuraG el ?orde de la tela para tamiar se su@eta entre éste án9ulo 6 la estructura principal. Puede encontrarse una amplia =ariedad de construcciones Eue dependen del in9enio del constructor. T#)$*!s 8$4(#3'($'s "n al9unos casos en lu9ar de dar al tami sacudidas o un mo=imiento alternati=o se le proporciona un mo=imiento =i?ratorio para >acer Eue las partículas se mue=an e impedir el entupido. sta =i?ración puede proporcionarse uniendo el te@ido del tami por medio de pasadores con la estructura del tami. Por el ea6 unos e@es rotati=os Eue lle=an martillos oscilantes Eue 9olpean so?re los pasadores. Otro método es colocar uno o dos canales li9eros o cualEuier otra forma de superficie portante so?re el lado inferior de la armadura del tami. "stos canales se apo6an en le=as montadas en e@es 9iratorios. Uno de los tipos más conocidos de tamices =i?ratorios es el 1umFmer el te@ido está eacia arri?a con una tensión

considera?le. !o?re la estructura del tami =a montado un electroimán cu6a armadura =a unida a la del tami. "sto >ace posi?le Eue el tami =i?re mu6 rápidamente 6 el resultado es o?tener 9ran capacidad 6 ausencia a?soluta de entupido. R'3!. "n este dispositi=o el tami A es aprooriontal 6 de?a@o del tami propiamente dic>o lle=a una tela metálica portante más 9ruesa '. so?re esta tela metálica portante a inter=alos determinados lle=a unos listones de madera de forma trian9ular. "ntre las dos telas la de tamiado 6 la portante =a un nmero determinado de ?olas de 9oma 4. el mo=imiento de sacudidas del tami >ace Eue las ?olas de 9oma 9olpeen los lados inclinados de los listones de madera separadores con lo Eue son refle@adas >acia arri?a 6 9olpean la parte inferior de la tela del tami. "l total del mecanismo del tami está soportado por su ea6 n telas se puede o?tener Bn[-C fracciones. Los tamices se utilian rara =e para operaciones en 9ran escala Bpráctica metalr9icaC con tamaños menores de dos o tres mallas. Para operaciones en escala menor se emplean con frecuencia tamices >asta cien mallas. Para los tamaños más peEueños sin em?ar9o se utilian otros dispositi=os fundados en la =elocidad de sedimentación se las partículas en una corriente de 9as líEuido o en la fuera centrífu9a. "n 9eneral puede clasificarse en procesos Eue implican sedimentación en una corriente de 9as o en una corriente de líEuido. Todos estos aparatos están relacionados con la eliminación completa de sólidos finos de todos los tamaños contenidos en un 9as o en un líEuido lo Eue ló9icamente sería una su?di=isión de la filtración. E, 3(')!,> ' 3#)$9 ('3#3'($' "! 3#)4'(  "stá formado por un tami de forma cilíndrica o troncónica Eue 9ira so?re su e@e. Pueden disponerse =arios tam?ores en serie de modo Eue el tamiado del primero pase al se9undo 6 de éste al tercero etc. "n al9unos casos se constru6en con tamices de diferentes tamaños de orificio dispuestos lon9itudinalmente 6 la alimentación entra por el lado del tami más fino. 4e éste modo se fracciona un producto en materiales de distintos tamaños. Pero la operación no resulta tan efica como en el caso de una serie de tam?ores sencillos o de un solo tam?or compuesto.

"l tam?or compuesto está formado por dos o más superficies de tamiado montadas concéntricamente so?re un mismo e@e. La superficie tamiante con los orificios de ma6or diámetro está formada en el interior del tam?or 6 la de a9u@eros más finos en el eao se separa de cada uno de los tamices o dispositi=os sencillos adecuados mientras Eue el tamiado de cada una de las etapas constitu6e la alimentación del tami inmediato de menor a?ertura. E, 3#)4'( 3('%*';*+%$*' tiene la forma 9eométrica Eue su nom?re indica 6 se instala 9eneralmente so?re un e@e >oriontal. Eq$1' KA%#,s!33! 00 N#%'T!*

Tamiado en seco: D2 m F D2 mm Tamiado en >medo: ), m F ),, m Microtamiado: ; m F -,, m !edimentación en el campo 9ra=itatorio: ,; m F ;,, m !edimentación en el campo centrífu9o: ,,; m F -, m "spectroscopia de difracción BláserC: -, nm F -,,, m Microscopio: ,,; m F - mm Microscopio de pro6ección: - m F -, mm "l eEuipo Anal6sette )) %anoTec producido por la empresa alemana &*IT!#1 6 presentado en la A#1"MA ),,2 es la ltima =ersión de los analiadores por difracción de ra6os láser apto para la medición automática de la distri?ución del tamaño de partículas en la 9ama de los nanómetros B-, nm a -,,, mC en dispersión o en seco. Además este eEuipo permite la identificación de formas de partículas durante el mismo proceso de medición mediante la aplicación de redes neuronales inteli9entes. R ló9icamente cumple con todas las normas I!O.

La =aloración de los resultados mediante una computadora tiene en cuenta todos los parámetros de las condiciones del ensa6o. "s facti?le la aplicación de la teoría Mie 6 otras complicadas calculaciones. "l resultado se presenta en la pantalla en forma de ta?las o 9ráficos permitiendo arc>i=ar los mismos 6 >acer comparaciones entre diferentes muestras. IV.0.. DESVENTAJAS DEL METODO DE TAMIHADO Las des=enta@as de esta técnica son Eue es difícil cernir a  D2 m 6 es fácil perder muc>as fracciones de pol=illo de?ido a tur?ulencias en el aire durante la tamiada. Una alternati=a al tamiado en seco es el tamiado en >medo Eue reduce al9o de las dificultades del tamaño pero tiene ?a@a reproduci?ilidad. "l tamaño inusual de al9unas partículas puede causar  pro?lemas. Por e@emplo una partícula lar9a 6 an9osta puede pasar por el cedao en una dirección 6 no en otra 6 las partículas aplanadas pueden ser retenidas en el tami Eue fácilmente de@a pasar partículas de la misma dimensión del mismo =olumen. Tanto en el cernido seco como en el >medo la orientación de las partículas a tra=és del cedao es afectada por la duración 6 la operación del procedimiento Bpor e@emplo 9olpeteoC. "l tamiado a menudo se realia antes de otras técnicas de selección de tamaño como la del método !edi0rap>. "l tamiado no es adecuado para la =aloración de la cantidad de material respira?le B( mC en una muestra pero da una ?uena primera aproan roto. IV.0.. APLICACIONES -

Metales en pol=o secos Boro co?re titanio aluminio entre otrosC.

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Minería seca Baplicaciones alu=iales 6 aplicaciones de rocas duras primariasC.

-  A9re9ados secos Barena piedra calia dolomita cuaro ?asalto

?au
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Materiales industriales secos Bfertiliantes =idrio silicato de aluminio ?ar?otina 9ránulos de plástico cataliadores de polietileno pol=o de PJ# alimentos secosC "n la industria farmacéutica: • •

Preparación de 9ránulos tanto en fase seca como >meda "la?oración de pre comprimidos de los in9redientes acti=os de ta?letas 6 pastillas

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1omo9eneiación de comprimidos Mecla de sólidos necesarios para el acondicionamiento de ta?letas "la?oración de preparaciones 9ranuladas para su comercialiación Proceso de desa9lomeración de productos Eue pro=ienen de procesos de secado de lec>o fluido

V. CONCLUSION -

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Las técnicas microscópicas constitu6en métodos con resultados fia?les para determinar el tamaño de las partículas. Las microscopías electrónicas de transmisión BT"MC 6 de ?arrido B!"MC son una de las técnicas más confia?les para e=aluar la medición de tamaño 6 morfolo9ía Beacer 9randes ?arridos del material en tres dimensiones. "