XRF

Pengambilan sample batu kapur dilakukan setiap hari guna mengkontrol jika terjadi  perubahan kualitas batu kapur pada tiap bench. Dilakukan oleh unit Quality Assurance and   Research Division (QARD) denga dengan n meto metode de XRF XRF. Data Data bench bench quali quality ty yang yang dipa dipaka kaii pada pada

 penelitian adalah hasil dari uji XRF pada tanggal 21 September 21!.

XRF (X-Ray Flourescence) Laboratorium  x-ray

"aboratorium  x-ray merupakan  bagian  bagian dari laboratorium  proses

yang  ber#ungsi  ber#ungsi

untuk  menganalisa komposisi komponen$ komponen kimia yang terdapat  pada raw meal, kiln  feed  dan clinker . %lat yang digunakan adalah x-ray adalah  x-ray analyzer . &ujuan dari analisa ini adalah untuk  mengetahui komposisi 'a() *g() Si(2) %l2(+) Fe2(+ dalam  batu kapur) tanah liat)  pasir silika)  pasir silika)  pasir   besi) raw meal, kiln  feed  dan clinker  dan harga modulus$ modulus  bahan secara otomatis setiap selang ,aktu dua  jam.  jam. %nalisa kiln  feed  dilakukan empat

 jam

sekali

dan

analisa

 bahan baku  bahan baku dilakukan per  dilakukan  per  shift   shift .

Prinsip kerja dari laboratorium -$ray ini adalah dengan menambahkan tiga  butir   butir   pil  parafin  parafin

 pada

sampel

yang  berbantuk   berbantuk   bulk 

dengan

maksud

untuk 

menahan

supaya sampel tidak  bersi tidak  bersi#at #at lengket dan pada dan  pada saat dipress dapat mengurangi keretakan.

Metode Spektrometer Fluoresensisinar-X

Sina Sinarr$X

adal adalah ah salah alah sat satu

bent bentuk uk dar dari radia radiasi si

elektromagn elekt romagnetik  etik   dengan panjang dengan panjang

gelombang berkisar gelombang  berkisar antara 1 nanometer  nanometer ke ke 1 1 pikometer   pikometer  sama dengan #rekuensi #rekuensi dalam rentang + petahert/ + petahert/ $  $ + e-ahert/ e-ahert/00 dan memiliki energi dalam rentang 1 e e $  $ 1 e3 e3.. Sinar$ X dapat diman#aatkan dalam analisis kimia baik secara kuantutati# maupun kualitati#. 4ila suatu unsur ditembakan dengan elektron yang bertenaga bertenaga tinggi maka akan terjadi interaksi interaksi antar antar elektr elektron$ on$ele elektr ktron on yang ada didalam didalam atom atom dari dari unsur unsur terseb tersebut ut dengan dengan elektr elektron on yang yang ditem ditemba bakan kan.. Seti Setiap ap inte intera raks ksii akan akan meny menyeba ebabka bkan n panca pancara ran n sina sinarr radi radias asi. i. Spekt Spektro rome mete ter  r  Fluoresensi Sinar$X adalah salah satu metode kimia analisis non$destrukti#.Pada analisis Sinar$X contoh padat atau cair diradiasi oleh sinar$X) sehingga mengakibatkan unsur dalam sample

memancarkan pendar sinar$X. 5nsur dapat ditetapkan berdasarkan panjang gelombang sinar$X karakteristik yang dipancarkan dan kadarnya dapat ditetapkan berdasarkan intensitasnya. *etode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu material. arena metode ini cepat dan tidak merusak sampel) metode ini dipilih untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol material. &ergantung pada penggunaannya) XRF dapat dihasilkan tidak hanya oleh sinar$X tetapi juga sumber eksitasi primer yang lain seperti partikel al#a) proton atau sumber elektron dengan energi yang tinggi iklund)260. InstrumentasiSpektrometerFluoresensiSinar-X

Pada prinsipnya) instrumentasi XRF terdiri dari tiga bagian yaitu7 1. Sumber sinar$X 2. Sistem pengurai +. Detektor  1. Sumber Sinar$X Sumber sinar$X ber#ungsi untuk menghasilkan berkas sinar$X yang akan ditembakan. Pada sistem atom unsur yang dianalisa akan terjadi proses eksitasi. 4erkas sinar yang diemisikan) diarahkan ke sistem pengurai yang ber#ungsi sebagai pemisah #oton sinar$X. Sebagai sumber sinar$X dapat digunakan tabung sinar$X X$Ray tube0 yang biasa disebut sumber utama sinar$X (Primary x-ray source). Pada dasarnya sumber utama sinar$X ini terdiri dari tabung yang 3akum) didalamnya terdapat katoda sebagai pemancar elektron dan anoda sebagai sasaran yang akan menghasilkan sinar$X untuk ditembakan pada sampel. 8mpat persyaratan untuk sumber  sinar$X7 a.  b. c. d.

eluaran #oton harus diatas panjang gelombang yang diperlukan. *empunyai stabilitas yang tinggi. *ampu bekerja pada tekanan tinggi &egangan antara 9$1 k0. 4ebas dari gangguan garis karakteristik sinar$X.

'ara kerja sederhana dari tabung sinar$X sebagai berikut7 atoda yang berupa #ilamen yaitu ka,at yang berpijar karena adanya pemanasan dialiri arus yang kemudian menghasilkan elektron$elektron dan bergerak menuju target anoda0 dengan kecepatan yang sangat tinggi disebabkan karena perbedaan potensial yang sangat besar antara #ilamen dan target) jika arus elektron dengan kecepatan tinggi menumbuk anoda dalam tabung

sinar$X) maka elektron akan kehilangan energinya dan dikeluarkan sebagai radiasi yang kontinu dari sinar$X. Sinar$X yang dihasilkan akan diserap oleh sampel dan sampel akan memancarkan radiasi kembali yang akan dinamakan radiasi sekunder Radiasi Fluoresense0. 2. Sistem Pengurai 4agian alat yang terpenting dari spektrometer X-Ray Fluoresence adalah sistem pengurai) karena bagian ini menentukan kepekaan dari spektrometer. Fungsi dari sistem pengurai ini adalah sebagai pengurai:pemisah radiasi sekunder atau radiasi #luoresense yang dipancarkan oleh sampel) sehingga masing$masing radiasi sekunder tersebut dapat dideteksi dan diukur besaran tenaganya oleh detektor. Radiasi sekunder yang dipancarkan mempunyai panjang gelombang yang diemisikan kesegala arah tetapi hanya berkas$berkas yang diperlukan yang diarahkan oleh lempengan$ lempengan 1. Detektor  Detektor sinar$X ber#ungsi untuk mengubah #oton$#oton sinar$X menjadi arus listrik yang sebanding dengan tenaga sinar$X yang dideteksi. Prinsip Kerja Spektrometer Fluoresensi Sinar-X

emampuan Spektrometer Fluoresensi Sinar$X yang cepat dan akurat menjadi kurang  berarti bila tidak dirangkai dengan program lanjutan yang baik. Dengan meman#aatkan  perkembangan dunia komputer) analisis dan perhitungan komposisi kimia serta kadarnya tidak  lagi menjadi pekerjaan yang sulit dan memakan ,aktu. Suatu program lanjutan yang dapat menghitung hasil penetapan spektrometer Flouresense Sinar$X dan merancang proporsi oksida$ oksida dari suatu contoh komposisi semen. 'ontoh yang diteliti disinari dengan radiasi sinar$X) terjadi interaksi antara proton dan elektron atom sample) sehingga terjadi perpindahan elektron dari kulit tertentu ke lapisan kulit yang lain) dan mengeluarkan sinar X karakteristik) kemudian sinar$X ditangkap oleh detektor  sesuai dengan unsurnya menjadi intensitas:arus yang kemudian diubah oleh komputer menjadi sebuah data.

Loss ! I"nition (LI)

Pengujian kadar "(; atau hilang pijar adalah salah satu uji kimia yang bertujuan untuk  mengetahui

bagian

yang

hilang

setelah

proses

pemijaran.

pengujian

"(;

ini

menggunakanmetode ra!imetri. umlah yang hilang diasumsikan sebagai jumlah =2( dan '(2 yang terdapat dalam sampel. Data hilang  pijar dibutuhkan untuk mengisi input pada analisis XRF. Sample Press

Sample press merupakan preparasi contoh uji yang digunakan untuk pengujian kadar  oksida pada %FR dengan menggunakan X$Ray 8psilon. Sample mula$mula ditempatkan pada alat "essel #isc $erzo   =S* 1 kemudian dihaluskan dan dimasukan kedalam ring untuk di press dengan Press %achine tipe =&P ? =er/og. Sebelum di grinding sampel ditambahkan suatu bahan pengikat  pil rindin aid. Penambahan pil ini  bertujuan untuk agar didapatkan ukuran partikel yang sama dan untuk menambah kekuatan sample yang dipress agar tidak mudah pecah. @amun dalam kenyataannyatidak semua sampel yang masuk ke A% bisa langsung di press) hal ini dikarenakan unsur yang terdapat dalam satu sampel tersebut beragam sehingga tidak saling mengikat saat di press) selain itu karakteristik  #isik dan jenisnya sendiri juga berbeda seperti karet) plastik) te-tile yang tidak memungkinkan untuk di press. Perlakuan untuk sampel yang beragam ini dilakukan pencampuran dengan limestone 171) dengan harapan bisa untuk di press. #rindin" $id


a.  b. c. d.


untuk membentuk aglomerasi. e. 'ontoh senya,a yang umum digunakan adalah %min %setat)