TUGAS TAMBAHAN LAPORAN KERJA PRAKTEK XRF (X-RAY FLOUROSKOPI) di Balai Besar Teknologi Pencegahan Pencemaran Industri (BBTPPI) Semarang 31 Juli – Juli – 31 31 Agustus 2017
Disusun oleh: Nisa Akmalia Thori NIM: 011400392 011400392 Program Studi D-IV Teknokimia Nuklir Jurusan Teknokimia Nuklir Sekolah Tinggi Teknologi Nuklir-BATAN
Dinyatakan telah disetujui dan disahkan : Yogyakarta, Agustus 2017 Pembimbing Kerja Praktik
Prof, Dr, Kris Tri Basuki, M.Sc. NIP. 19610216 19610216 198801 2 001 001
Ketua Jurusan Teknokimia Nuklir
Kartini Megasari, S.ST, M.Eng NIP. 19671130 19671130 199001 1 001 001
i
ii
DAFTAR ISI DAFTAR ISI .......................................................................................................................... iii DAFTAR GAMBAR ................................................................................................................iv DAFTAR TABEL .................................................................................................................... v 1.
Pengertian ........................................................................................................... 1
2.
Prinsip Kerja XRF .................................................................................................. 2
3.
Jenis-jenis XRF ..................................................................................................... 3
4.
Hal-hal yang perlu diperhatikan dalam penggunaan XRF ................................... 6
5.
Keamanan ............................................................................................................ 9
6.
Peralatan ........................................................................................................... 10
7.
Alat laboratorium dan Reagen .......................................................................... 11
8.
Kalibrasi dan Kontrol Kualitas XRF ..................................................................... 12
9.
Analisis Sampel .................................................................................................. 13
10.
Menentukan Konsentrasi Logam atau Metaloid dalam Udara ......................... 14
11.
Limit Deteksi ...................................................................................................... 14
12.
Kelebihan dan Kekurangan XRF ......................................................................... 15
13.
Kesimpulan ........................................................................................................ 19
DAFTAR PUSTAKA ............................................................................................................... 1
iii
DAFTAR GAMBAR Gambar 1. Skema Proses Terjadinya Sinar X ......................................................... 2 Gambar 2. Prinsip Kerja WDXRF .......................................................................... 4 Gambar 3. Prinsip kerja EDXRF ............................................................................ 5 Gambar 4. Contoh Hasil Analisis XRF ................................................................. 16
iv
DAFTAR TABEL Tabel 1. Daftar perbedaan antara WDXRF dan EDXRF ........................................ 6 Tabel 2. Tabel Energi Unsur ................................................................................. 18
v
1
XRF 1. Pengertian XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa nondestruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair. XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be) hingga Uranium pada level trace element , bahkan dibawah level ppm. Secara umum, XRF spektrometer mengukur panjang gelombang komponen material secara individu dari emisi flourosensi yang dihasilkan sampel saat diradiasi dengan sinar-X (PANalytical, 2009). Analisis unsur dilakukan secara kualitatif maupun kuantitatif. Analisis kualitatif dilakukan untuk menganalisis jenis unsur yang terkandung dalam bahan, dan analisis kuantitatif dilakukan untuk menentukan konsentrasi unsur dalam bahan. Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu material. Karena metode ini cepat dan tidak merusak sampel, metode ini dipilih untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol material. Tergantung pada penggunaannya, XRF dapat dihasilkan tidak hanya oleh si narX tetapi juga sumber eksitasi primer yang lain seperti partikel alfa, proton atau sumber elektron dengan energi yang tinggi (Viklund,2008).
2
2. Prinsip Kerja XRF
Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari Gambar 1. Skema Proses Terjadinya Sinar X Tabung X ray atau sumber radioaktif mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi atau dihamburkan oleh material. Proses dimana sinar-X diabsorpsi oleh atom dengan mentransfer energinya pada elektron yang terdapat pada kulit yang lebih dalam disebut efek fotolistrik. Selama proses ini, bila sinar-X primer memiliki cukup energi, elektron pindah dari kulit dalam dan menimbulkan kekosongan. Kekosongan ini menghasilkan keadaan atom yang tidak stabil. Apabila atom kembali pada keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke kulit yang lebih dalam dan proses ini menghasilkan energi sinar-X tertentu. Emisi sinar-X dihasilkan dari proses ini disebut X Ray. Berikut ini skema prinsip kerja XRF :
3
A. Elektron di kulit K terpental keluar dari atom akibat dari radiasi sinar X yang datang. Akibatnya, terjadi kekosongan/vakansi elektron pada orbital. B. Elektron dari kulit L atau M “turun” untuk mengisi kekosongan tersebut disertai oleh emisi sinar X yang khas dan meninggalkan kekosongan lain di kulit L atau M. C. Saat kekosongan terbentuk di kulit L, elektron dari kulit M atau N “turun” untuk mengisi kekosongan tersebut sambil melepaskan sinar X yang khas. D. Spektrometri XRF memanfaatkan sinar-X yang dipancarkan oleh material yang selanjutnya ditangkap detektor untuk dianalisis kandungan unsur dalam material.
3. Jenis-jenis XRF Ada 2 jenis XRF yaitu WDXRF (Wave Length Dispersive X Ray Floroskopi) dan EDXRF ( Energy Dispersive XRF) A. WDXRF (Wave Length Dispersive X Ray Floroskopi) WDXRF atau Wave Length Dispersive Xray Floroskopi merupakan XRF yang menggunakan difraksi kristal untuk pengamatan fluorosensi sinar X. WDXRF dicirikan dengan resolusi spektrum yang bagus dengan tumpang tindih puncak yang minimal.
Dengan menggunakan WDXRF spektrometer (PANalytical, 2009):
1.
Aplikasinya luas dan beragam.
2.
Kondisi pengukuran yang optimal dari tiap – tiap elemen dapat diprogram.
4
3.
Analisa yang sangat bagus untuk elemen berat.
4.
Sensitivitas yang sangat tinggi dan limit deteksi yang sangat rendah
5.
Resolusi yang sangat bagus
Gambar berikut menjelaskan prinsip kerja WDXRF
Gambar 2. Prinsip Kerja WDXRF
Sampel yang terkena radiasi sinar-X akan mengemisikan radiasi ke segala arah. Radiasi dengan arah yang spesifik yang dapat mencapai kolimator. Sehingga refleksi sinar radiasi dari kristal ke detektor akan memberikan sudut θ. Sudut ini akan terbentuk jika panjang gelombang yang diradiasikan sesuai dengan sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal. Maka hanya panjang gelombang yang sesuai akan terukur oleh detektor. Karena sudut refleksi spesifik bergantung panjang gelombang, maka untuk pengukuran elemen yang berbeda, perlu dilakukan pengaturan posisi kolimator, kristal serta detektor (Gosseau,2009)
5
B. EDXRF ( Energy-dispersive X-ray Fluorescence) Pada EDXRF ( Energy-dispersive X-ray Fluorescence) spektrometri bekerja tanpa menggunakan kristal, namun menggunakan software yang mengatur seluruh radiasi dari sampel ke detektor semikonduktor (PANalytical, 2009). Radiasi Emisi dari sample yang dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh detektor semikonduktor. Detektor semikonduktor menangkap foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi impuls elektrik. Amplitudo dari impuls elektrik tersebut bersesuaian dengan energi dari foton – foton yang diterima detektor. Impuls kemudian menuju sebuah perangkat yang dinamakan MCA ( Multi-Channel Analyzer ) yang akan memproses impuls tersebut. Sehingga akan terbaca dalam memori komputer sebagai channel. Channel tersebut yang akan memberikan nilai spesifik terhadap sampel yang dianalisa. Pada XRF jenis ini, me mbutuhkan biaya yang relatif rendah, namun keakuratan berkurang. (Gosseau,2009). Gambar berikut mengilustrasikan prinsip kerja EDXRF (Gosseau,2009):
Gambar 3. Prinsip kerja EDXRF
6
Berikut ini tabel perbedaan antara WDXRF dan EDXRF Tabel 1. Daftar perbedaan antara WDXRF dan EDXRF WDXRF
EDXRF Menggunakan detektor semikonduktor
Menggunakan difraksi kristal Lebih besar, lebih kompleks, menggunakan water chiller (pendingin tabung X-Ray)
Lebih kecil, lebih sederhana, tidak menggunakan water chiller
Analisa B-U(92), lebih sensitive, lebih akurat, menggunakan pompa vakum
Analisa Na-U(92), menggunakan pompa vakum (opsional), Analisa unsur berat (K-U) hasil hampir sama dengan WDXRF
Menggunakan gas p10(ArgonMethane), He (opsional untuk analisa cairan)
Mengggunakan He(optional, untuk unsur ringan Na-Cl)
EDXRF merupakan metode XRF yang paling mudah diterapkan dan paling umum digunakan dalam metode untuk analisis sampel udara. EDXRF memancarkan sinar X kurang dari 4 keV yang mempengaruhi Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, dan K, dapat terserap pada filter dengan deposit partikel yang tebal, atau pada partikel yang besar yang didalamnya terkandung unsur unsur tersebut.
4. Hal-hal yang perlu diperhatikan dalam penggunaan XRF A. Karakteristik Sampel yang Dapat dianalisis menggunakan XRF Ada beberapa persyaratan agar suatu sampel dapat dianalisis menggunakan XRF, berikut beberapa persyaratan agar suatu sampel dapat dianalisis menggunakan XRF 1.
Sampel serbuk kurang lebih 100 mesh
2.
Sampel cair yang homogen
7
a.
Tipe sampel yang diperoleh dari lingkungan seperti minyak dan air
b. 3.
Tidak membutuhkan preparasi yang rumit
Sampel padatan dengan batas max 2,5 cm dan D 2,5 m a. Logam, plastik, kaca, keramik b. Pelapisan permukaan akan mempengaruhi komposisi kimia yang terbaca c. Ukuran partikel tidak menjadi persoalan d. Permukaan harus homogen
4.
Pressed powder Tipe sampel yang dapat dibentuk press powder seperti batuan, semen, lumpur, alumina, fly ash, dll a. Serbuk di press membentuk tablet padat menggunakan hydraulic press fused beads b. Tipe sampel yang termasuk dipreparasi seperrti fused bead adalah batuan, semen, bijih besi, dll c. Sampel dicampur dengan flux. d. Sampel dan flux dipanaskan pada suhu 1000 C e. Permukaan harus homogen
B. Pengukuran Logam dan Metaloid di Udara Menggunakan XRF 1.
Metode ini mendekripsikan penentuan konsentrasi unsur logam dan sublogam dengan nomer atom sama dengan atau lebih besar dari titanium
( ≥ 22) menggunakan XRF
8
2.
Metode XRF ini cocok untuk penentuan metal dan metaloid dalam sampel debu dengan massa maksimum kurang lebih 0,5 mg ketika disimpan di filter dengan D 25 mm atau 1 mg dalam filter dengan D 37 mm.
3.
Batas ini diatur oleh dua faktor : Pertama, hasil analisis dihitung pada asumsi bahwa ada hubungan linier antara intensitas garis XRF dan massa elemen pada filter. Seiring bertambahnya beban, penyimpangan dari linearitas terjadi karena efek penyerapan matriks. Tingkat deviasi berhubungan dengan komposisi sampel. Meskipun biasanya tidak terjadi penyimpangan yang signifikan pada massa debu 1 mg pada diameter filter 25 mm, tapi secara teoritis batas beban sampel maksimum adalah 0,5 mg
4.
Analisis XRF dengan sampel udara dikumpulkan pada filter dan tidak memerlukan preparasi sampel sebelum analisis.
5.
Metode ini dikembangkan dan divalidasi menggunakan panjang gelombang sekuensial spektrometer XRF dispersif. Namun, dispersif panjang gelombang simultan juga dapat digunakan.
C. Cara Kerja XRF untuk Pengukuran Sampel Udara Volume udara yang terukur ditarik melalui filter, kemudian debu dikumpulkan dalam filter dapat langsung dianalisis tanpa preparasi sampel oleh XRF.
9
1.
Pengambilan Sampel Berikut ini adalah hal-hal yang perlu diperhatikan dalam pengambilan sampel debu untuk dianalisis menggunakan XRF a.
Untuk paparan jangka panjang : Waktu sampling maksimum : 8 jam Laju alir sampling dan durasi tergantung dari kebutuhan individu dan konsentrasi aerosol. Massa beban tidak boleh melebihi 0,5 mg pada filter dengan D 25 mm
b.
Untuk paparan jangka pendek: Waktu sampling: 15 menit Laju alir sampling tergantung keperluan Massa beban tidak boleh melebihi 0,5 mg pada filter dengan D 25 mm
5. Keamanan A. Pengguna prosedur ini harus terbiasa dengan praktik laboratorium dan melakukan penilaian resiko yang sesuai. Ini merupakan tanggung jawab pengguna untuk membangun praktek kesehatan dan keselamatan yang sesuai dan untuk memastikan kepatuhan terhadap peraturan. B. Pelaksana dan pengawas prosedur bisa terkena radiasi sinar X dan oleh karena itu harus diperhatikan persyaratan Peratura n Radiasi Pengionan 1999 dan kode etik.
10
6. Peralatan Dan berikut ini adalah perlengkapan yang harus disiapkan untuk proses pengambilan sampel: A. Penghisap debu yang dapat dibersihkan dan dioperasikan sesuai dengan instruksi pabrik B. Pompa sampling yang sesuai dengan persyaratan BS EN 13137 C. Filter yang retentititasnya tidak kurang dari 99,5% untuk partikel dengan diameter difusi 0,3. Akan tetapi, filter dengan diameter 25 mm lebih disukai untuk digunakan, karena seluruh filter bisa terkena sinar X. Penggunaan membran filter direkomendasikan karena partikel udara disimpan pada permukaan dengan lapisan tipis.
Berikut ini syarat-syarat filter yang digunakan:
Terdiri dari tenunan plastik yang rapat ataupun membran plastik yang telah
ditembus
oleh
pori
pori
mikroskopik.
Chow
(1995)
mengindentifikasikan beberapa karakter filter yang telah berhasil gunakan untuk pengambilan sampel:
1.
Memiliki stabilitas mekanik
2.
Stabilitas kimia
3.
Efisiensi partikel gas
4.
Resistensi alir
5.
Kapasitas beban
11
6.
Formasi artefak
7.
Kompatible dengan metode analisis
8.
Harganya terjangkau.
9.
Tidak mengandung karbon
Filter substrat harus dilindungi dari kontaminasi. Hal ini dapat diselesaikan dengan memasang holder , yang harus: 1.
Berpasangan dengan sampel dan sistem alir tanpa bocor
2.
Terdiri dari bahan inert yang tidak menyerap gas asam
3.
Deposit dapat terdistribusi merata
4.
Memiliki pressure drop rendah pada holder kosong
D. Flow meter portable yang dikalibrasi dengan standar primer dengan pengukuran ketidaktelitian kurang dari 2% E. Tabung plastik elastis dengan diameter yang sesuai untuk mencegah kebocoran dari kepala pompa 7. Alat laboratorium dan Reagen A. Air yang memenuhi persyaratan air kelas ISO 3696 2 (konduktivitas listrik kurang dari 0,1 MSM dan resistivitas lebih besar dari 0,01 MΩ.m pada 25°C B. Senyawa dari unsur murni (ukuran partikel lebih disukai <5 μm). Logam dan metaloida dari komposisi yang diketahui secara akurat C. Larutan unsur standar D. Serbuk grafit: Cocok untuk kompresi dalam untuk membentuk pelet padat E. Tungku untuk pengeringan grafit pada 480 ° C.
12
F.
Hidrolik Press (20 ton tekanan yang diberikan) untuk menekan pelet grafit.
G. Generator awan debu: Alat untuk menghasilkan debu dari awan H. Microbalance: Dikalibrasi dengan standar utama dan mampu menimbang untuk presisi ±0,1µg 8. Kalibrasi dan Kontrol Kualitas XRF A. Terdapat 3 standar XRF yang digunakan untuk kalibrasi, uji performansi dan audit. Yaitu, micromatter, film polimer (Dzubay et al.,1981) dan gelas film tipis National Institute of Standar And Technology (NIST) B. Analisis yang paling akurat diperoleh saat filter kalibrasi. Sampel dikumpulkan dengan pengmpul debu dari atmosfer menggunakan sampler yang sama. Oleh karena itu, lebih mudah didapat kalibrasi yang akurat jika jumlah logam pada filter kalibrasi ditentukan setelah pengukuran XRF dengan analisis menggunakan teknik analisis referensi C. Untuk mempersiapkan filter kalibrasi, filter harus dimasukkan ke dalam sampler dari jenis yang sama digunakan untuk pengumpulan sampel lapangan. Sampler ini diatur dalam ruang suasana standar D. Aliran volumetrik harus diatur ke yang biasanya digunakan untuk mengumpulkan sampel E. Debu yang terkumpul pada filter sampel biasanya tidak terdistribusi secara merata, tetapi biasanya terkonsentrasi pada pusat saringan oleh lubang sampler. F. Karena sinar X dari spektrometer tidak terlalu merata dari keseluruhan permukaan filter, bagian tengah filter berkontribusi lebih kuat terhadap XRF
13
emisi. Akibatnya, penting untuk menggunakan sampler dengan desain yang sama untuk pengumpulan sampel, karena kemiringan garis kalibrasi bervariasi sesuai dengan jenis sampler yang digunakan G. Idealnya, ukuran partikel debu yang dikumpulkan pada filter kalibrasi seharusnya sama seperti partikulat yang dikumpulkan pada filter sampel. Namun, hal ini tidak praktis. Sebagai gantinya, ukuran partikel diminimalkan sampai tingkat yang dapat diabaikan dengan menyiapkan saringan kalibrasi, sehingga dihasilkan ukuran partikel yang seragam. Akan tetapi, sebagai konsekuensinya pengukuran yang dilakukan pada filter sampel bisa memiliki bias negatif jika ukuran partikel samp el lebih bear dari itu. 9. Analisis Sampel A. Atur program kalibrasi menggunakan pengaturan spektrometer yang telah dipilih untuk logam atau metaloid yang akan dianalisa B. Masukkan filter kalibrasi ke dalam wadah sampel dan hitung laju cacahan sinar X pada puncaknya dan panjang gelombang blanko nya C. Hitung laju cacahan dari logam dan metaloid dari sampel. D. Masukkan masa logam atau metaloid pada filter kalibrasi ke komputer. Dari sini dapat dihitung secara akurat massa dari unsur yang terkumpul dalam filter. Kemudian di plot kan untuk mendapatkan kurva kalibrasi E. Kurva kalibrasi harus linear. Kemudian, dihitung slope nya yang akan dinyatakan dalam cacahan sinar X (per detik per ) unsur dalam filter dan
14
intersep nya. Slope dan intersep dari kurva kalibrasi dapat digunakan untuk analisis sampel dari sampel yang tidak diketahui kandungannya. 10. Menentukan Konsentrasi Logam atau Metaloid dalam Udara Untuk menentukan konsentrasi logam atau metaloid dalam udara, dapat digunakan persamaan sebagai berikut: A. Hitunglah volume (V), dalam liter dari sampel udara dengan mengkalikan rata-rata laju udara volumetrik (L/min) dengan waktu sampling (menit) B. Perhitungan konsentrasi logam atau metaloid dalam udara p(E), dalam mg/m3 menggunakan persamaan berikut:
() =
[()1 − ()0 ]
Dimana m(E)1 adalah massa() dari logam atau metaloid dalam filter sampel : 1. m(E)0 adalah massa rata-rata () dari logam atau metaloid pada filter kosong 2. V adalah volume dalam sampel udara (L) 11. Limit Deteksi A. Limit deteksi tergantung dari beberapa faktor, termasuk jenis spektrometer yang digunakan, parameter analitik yang dipilih, adanya tambahan fase dalam sampel, dan ukuran partikel sampel. B. Untuk sampel yang disimpan pada filter sebagai lapisan tipis, ketepatan pengukuran XRF berhubungan dengan akar kuadrat dari jumlah sinar X
15
yang dihitung persatuan massa unsur pada puncak gelombang dan blanko sinar X. Limit deteksi dapat dikurangi dengan menghitung pada waktu yang lebih lama. Tapi, hal ini akan meningkatkan waktu analisis, yang akan sangat berdampak jika beberapa logam dan metaloid akan ditentukan. C. Limit deteksi kualitatif dan kuantitatif yang tipikal, didefinisikan tiga kali dan sepuluh kali standar deviasi dari pengukuran blanko. D. Limit deteksi XRF dapat diperkecil dengan : 1. Meningkatkan energi radiasi 2. Area radiasi 3. Mengurangi background radiasi : dengan menggunakan filter yang lebih kecil atau energi eksitasi monokromatik 4. Meningkatkan waktu analisis : limit deteksi berkurang dengan dua kali waktu analisis
12.
Kelebihan dan Kekurangan XRF Berikut ini adalah beberapa kelebihan dan kekurangan XRF: A. Kelebihan: 1.
Cukup mudah, murah dan analisanya cepat
2.
Metode analisis XRF dapat diterapkan untuk penentuan konsentrasi lebih dari 40 unsur partikel di udara tanpa merusak sampel.
3.
Hasil analisa akurat
4.
Membutuhan sedikit sampel pada tahap preparasinya(untuk Trace elemen)
16
5.
Dapat digunakan untuk analisa elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) maupun trace elemen (>1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn)
B. Kekurangan : 1. Tidak cocok untuk analisa element yang ringan seperti H dan He 2. Analisa sampel cair membutuhkan Volume gas helium yang cukup besar 3. Preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup lama dan memebutuhkan perlakuan yang banyak.
Dibandingkan dengan alat yang lain seperti AAS dan AAN, XRF lebih dipilih untuk digunakan karena XRF dapat mengetahui konsentrasi dari banyak unsur dengan tenaga yang lebih sedikit, limit deteksi yang rendah dan tidak merusak sampel.
Gambar 4. Contoh Hasil Analisis XRF
17
Spektrum energi yang didapatkan dari analisis sampel udara ambien ditunjukkan seperti gambar di atas. Sumbu axis (x) merupakan cacahan yang menggambarkan intensitas dari energi yang dilepaskan oleh unsur. Semakin tinggi konsentrasi suatu unsur, maka semakin tinggi dan semakin tajam puncak yang dihasilkan. Dari hasil spektrum di atas, dapat dilihat bahwa terdapat 3 puncak yang tinggi dan tajam, yaitu S, K dan Fe. Hal ini menunjukkan bahwa pada sampel yang dianalisis, banyak terdapat kandugnan S, K dan Fe. Energi dan intensitas energi yang dilepaskan oleh unsur tersebut dapat terbaca dengan jelas pada komputer yang tersinkronisasi dengan XRF. Tabel di bawah ini menunjukkan unsur dengan energinya yang digunakan untuk pembacaan XRF.
18
Tabel 2. Tabel Energi Unsur
No 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32
Unsur Mg Al Si P S Cl K Ca Sc Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se Br Sr Y Zr Nb Mo Ru Rh Pd Ag
Energi (keV) 1,25 1,49 1,74 2,01 2,31 2,62 3,31 3,69 4,09 4,51 4,95 5,41 5,89 6,40 6,93 7,48 8,05 8,64 9,25 9,89 10,54 11,22 11,92 14,16 14,96 15,78 16,62 17,48 19,28 20,22 21,18 22,16
No 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64
Unsur Cd In Sn Sb Te I Ba La Hf Ta W Re Os Ir Pt Au Hg Tl Pb Bi Ce Pr Nd Sm Gd Dy Ho Er Yb Lu Th U
Energi (keV) 23,17 24,21 25,27 26,36 27,47 28,61 32,19 33,43 7,90 8,15 8,39 8,65 8,91 9,18 9,44 9,71 9,99 10,26 10,55 10,84 4,84 5,03 5,23 5,63 6,06 6,49 6,72 6,95 7,18 7,65 12,97 13,61
19
Faktor sensitivitas yang didapatkan dikalikan dengan intensitas puncak netto yang dihasilkan oleh sampel ambien untuk mendapatkan endapan µg/cm2 untuk masing-masing unsur. Intensitas ini didapatkan dari mengurangi radiasi latar dan interensi spektrum dan menyesuaikan penyerapan sinar X. Kemampuan sinar X untuk menembus endapan aerosol tergantung dari energi sinar X, komposisi dan ketebalan endapan. Umunya, semakin rendah energi sinar X yang merupakan sifat dari unsur ringan, terserap lebih banyak daripada sinar X energi tinggi. 13.
Kesimpulan XRF adalah salah satu metode sinar X yang dapat diterapkan untuk sampel udara ambien. Metode ini tidak dapat digunakan untuk semua filter sampel, akan tetapi XRF memiliki cakupan yang cukup luas dan hasilnya sangat presisi, serta XRF dapat digunakan untuk mengukur unsur dengan konsentrasi yang sangat sedikit. XRF dapat melakukan analisis yang cepat untuk berbagai unsur dengan waktu operasi singkat dan tanpa merusak nilai dari sampel. Hasil dari analisisnya dapat digunakan untuk memverifikasi konsentrasi
massa,
menentukan
paparan
substansi
beracun
mengidentifikasi konstribusi dari sumber polusi yang berbeda.
dan
DAFTAR PUSTAKA 1. LPPT
Universitas
Gajah
Mada.(2017).
Retrieved
from
http://lppt.ugm.ac.id/berita/detail/xray-fluorosene-xrf 2. Center for Environmental Research Information Office of Research and Development
U.S.
Environmental
Protection
Agency.,1999,
Determination of Metals in Ambient Particulate Matter Using X-Ray Fluorosence (XRF) Spectroscopy, Cincinnati. 3. Landsberger,S.,Creatchman,M.,1999, Elemental Analysis of Airbone Particles., Gordon and Breach Science Publishers, Netherland 4. Amanda Jones: Future Conservator. (2014). How to Analyze XRF Spectra,
retrieved
from
https://amandajonesfutureconservator.wordpress.com/2014/07/15/how -to-analyze-xrf-spectra/ 5.
XRF
Research.Inc.(2017). XRF – SPECTRA.
Retrieved
from
http://xrfresearch.com/WP/xrf-spectra/
20
