Tugas 06 1. Jela Jelask skan an bebe bebera rap pa Tools untuk analisa kerusakan! Berikut ini merupakan beberapa tools untuk analis kerusakan •
Scanning Electron Microscope (SEM) Alat ini digunakan untuk mengetahui komposisi kimia permukaan dengan ukuran luas luas mikron, mikron, topografi topografi permukaan, permukaan, dan gambar gambar tiga tiga dimensi dari daerah yang diamati
•
Energy Dispersive Spectrometry (EDS) Alat ini digunakan digunakan untuk mengetahui mengetahui unsur-unsur yang terdapat terdapat pada sampel sampel berupa berupa padatan. padatan.
•
Optical Microscpe (OM) Alat ini digunakan untuk melihat butir pada sebuah material.
•
X-ray Difraction (XRD) Alat ini digunakan digunakan untuk mengetahui komposisi komposisi senyawa. senyawa.
•
X-ray Fluoresence (XRF) Alat ini digunakan digunakan untuk mengetahui mengetahui unsur dari sampel sampel berupa serbuk. serbuk.
2. Jela Jelask skan an fung fungsi si dan dan prin prinsi sip p ker kerja ja tools di atas! Prinsip kerja dari tools diatas diatas antara antara lain: •
Scanning Electron Microscope (SEM) Menembakkan elektron yang difokuskan oleh lensa magnetik ke arah sampel, menyebabkan adanya elektron dari sampel yang terkeksitasi keluar. Dimana elektron yang tereksitasi tereksitasi ditangakap ditangakap oleh detektor sehingga sehingga dapat dilihat hasil gambarnya.
•
Energy Dispersive Spectrometry (EDS) Menangkap energy dalam bentuk x-ray yang dihasilkan dari eksitasi elektron dari kulit terluar ke kulit yang lebih dalam untuk mengisi kekosongan pada kulit elektron akibat insiden elektron yang membentuk interaksi secondary electrons.
•
Optical Microscpe (OM) Memanfaatkan cahaya yang berasal dari mikroskop ini, maka gambar dapat dilihat. Pada umumnya untuk melihat batas butir.
Muhammad Tsabit Ayman •
1306368072
X-ray Difraction (XRD) Menembakan x-ray ke material dan menghasilkan grafik pada layar, dimana grafik yang diambil adalah tiga peak tertinggi. Kemudaian dari hasil peak tersebut maka dapat diketahui senyawa yang terkandung dalam material tersebut.
•
X-ray Fluoresence (XRF) Menggunakan insiden gelombang elektromagnetik x-ray dari x-ray tube. Identifikasi yang dihasilkan dari insiden gelombang x-ray ini adalah sudut difraksi beserta dengan bidang (dalam miller’s index) dan intensitasnya.
3. Gambarkan skematis perbedaan prinsip kerja antara OM & SEM!
Gambar Skema OM (Kiri) dan SEM (Kanan)
4. Jelaskan hasil apa saja yang akan diperoleh dari analisa kerusakan material dengan menggunakan ke-3 tools diatas! Hasil yang didapat antara lain: •
Scanning Electron Microscope (SEM) Orientasi kristalografi, batas butir, perbedaan fasa, dan komposisi kimia
Muhammad Tsabit Ayman •
1306368072
X-ray Difraction (XRD) Senyawa. Biasanya untuk melihat produk korosi.
•
Energy Dispersive Spectrometry (EDS) dan X-ray Fluoresence (XRF) Unsur dari material yang diamati dengan melihat hasil dari peak yang didapat pada grafik. Beda dari kedua alat ini ada pada bentuk sampelnya, yaitu sampel XRF berupa serbuk dan sampel EDS berupa padatan atau bongkahan.
5. Jelaskan perbedaan antara secondary electron (SE) dan quick backscattered
electron (QBSE) pada hasil pengamatan permukaan material logam!
Secondary Electron (SE) Hasil pengamatan SE lebih dikhususkan untuk kontras topografi permukaan material. Ini disebabkan SE yang dihasilkan dengan energi yang rendah sehingga batas scanningnya kecil dan hanya deteksi permukaan.
Quick Backscattered Electron (QBSE) Hasil yang dihasilkan lebih tinggi atau besar kedalamannya disebabkan oleh energi yang dimiliki oleh QBSE ini lebih tinggi. Namun, resolusi yang dihasilkan untuk QBSE ini lebih besar sehingga dibandingkan dengan hasil SE akan lebih tidak jelas gambar yang dihasilkan. Imaging permukaan yang dihasilkan oleh QBSE ini lebih mengarah pada kontras nomor atom.
