Tugas-05-1306368085

HADN YANDITA NDITA - 1206242763 120624 2763] [MUHAMMAD AZHAR HADNYA ] HOME WORK – 5

1. 2. 3. 4.

Jela Jelask skan an beb beber erap apaa tools untuk tools untuk analisa kerusakan! Jelaska Jelaskan n fung fungsi si dari dari prinsi prinsip p kerja kerja tools di atas! Gambarkan Gambarkan sekamati sekamatiss perbedaan perbedaan prinsip prinsip kerja kerja antara antara OM & SEM! SEM! Jelas Jelaska kan n asil asil apa apa saja saja ang ang dipe diper" r"le le  dari dari anali analisa sa keru kerusak sakan an mater material ial deng dengan an

menggunakan ke#3 tools di tools di atas! $. Jelas Jelaska kan n per perbe beda daan an anta antara ra secondary  secondary electron dan electron dan quick backscattered electron pada electron pada asil pengamatan permukaan material l"gam! JAWABAN

1. %eberapa tools untuk tools untuk analis kerusakan SEM' dapat dipakai untuk mengetaui k"mp"sisi kimia permukaan dengan • •

ukuran luas mikr"n. EDS' dapa dapatt digu diguna naka kan n untu untuk k meng mengeta etau uii unsu unsur' r' deng dengan an samp sampel el beru berupa pa  padatan. Mik!"k!# O#$ik ' dapat digunakan untuk meliat butir pada sebua material. (erbesaran OM ana 1)))*. %RD' dapat digunakan untuk mengetaui k"mp"sisi sena+a' misalna karat. dapat diguna digunakan kan untuk untuk mengeta mengetaui ui unsur unsur'' dengam dengam sampel sampel berupa berupa %R&' dapat serbuk.

2. (rin (rinsi sip p ker kerja ja dar darii tools di tools di atas • SEM' dengan menembakkan elektr"n ang dif"kuskan "le lensa magnetik ke ara ara sampel sampel'' mene menebab babkan kan adan adanaa elektr elektr"n "n dari dari sampel sampel ang ang terkek terkeksit sitasi asi keluar. ,imana elektr"n ang tereksitasi ditangakap "le detekt"r seingga •

dapat diliat asil gambarna. EDS' menangkap energ dalam bentuk *#ra ang diasilkan dari eksitasi elektr"n dari kulit terluar ke kulit ang lebi dalam untuk mengisi kek"s"ngan pada kulit elektr"n akibat insiden elektr"n ang membentuk interaksi  secondary electrons. electrons.

•

Mik!"k!# O#$ik ' memanfaatkan -aaa ang berasal dari mikr"sk"p ini'

•

maka gambar dapat diliat. (ada umumna untuk meliat batas butir. %RD' asil dari /, akan berupa grafik' dimana grafik ang diambil adala tiga peak  tiga peak  tertinggi.   tertinggi. 0emudaian dari asil peak  asil peak  tersebut tersebut maka dapat diketaui

•

sena+a ang terkandung dalam material tersebut. "nt"na eO 3. dari  X%R&' eknik ang menggunakan insiden gel"mbang elektr"magnetik  X-Ray dari X Raytube, dsb. dentifikasi ang diasilkan dari insiden gel"mbang #/a ini adala sudut difraksi beserta dengan bidang 5dalam miller’s index6 index6 dan intensitasna.

3. SEM dan OM()M

[MUHAMMAD AZHAR HADNYANDITA - 1206242763]

4. 7asil ang didapat adala SEM' mendapatkan asil "rientasi kristal"grafi' batas butir' perbedaan fasa' • •

k"mp"sisi kimia dari material ang diamati. %RD' mendapatkan asil berupa sena+a. (ada umumna digunakan untuk 

•

meliat apaka ada karat atau tidak. %R& *+, EDS' asilna sama' aitu dapat mengetaui unsur dari material ang diamati dengan meliat asil dari peak   ang didapat pada grafik. 8ang membedakan adala pada / sampel berupa serbuk dan pada E,S sampel  berupa padatan atau b"ngkaan.

$.  Secondary Electron QBSE  7asil pengamatan lebi dikususkan untuk  7asil ang diasilkan lebi tinggi atau besar 

k"ntras t"p"grafi permukaan material. ni kedalamanna dikarenakan SE ang diasilkan dengan energ

ang

 scanningnya  permukaan.

renda' ke-il

dan

seingga ana

dikarenakan

energ

ang

dimiliki "le %SE ini lebi tinggi. 9amun'

batas res"lusi ang diasilkan untuk %SE ini lebi deteksi  besar seingga disbanding asil SE akan lebi tidak jelas gambar ang diasilkan.  Imaging  permukaan ang diasilkan "le

[MUHAMMAD AZHAR HADNYANDITA - 1206242763]

%SE ini lebi mengara pada k"ntras n"m"r  at"m.