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OMICRON TEST UNIVERSE

CURSO DE ENTRENAMIENTO

OMICRON TEST UNIVERSE ADVANCED PROTECTION PACKAGE

Presentado por:

Para:

Ing. Héctor Frisancho F.

Red Eléctrica Andina S.A.C. ENSYS S.A.C.

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CONTENIDO 1. CMC CMC--256 / 356 Hardware 2. Software O.T.U. – Concepto 3. Módulo de Prueba QuickCMC 4. Módulo de Prueba Ramping 5. Módulo de Prueba State Sequencer 6. Módulo de Prueba Overcurrent 7. Módulo de Prueba Adv. Adv. Distance 8. Módulo de Prueba Adv. Adv. Differential 9. Módulo de Prueba Adv Adv.. Transplay 10. Herramientas de Prueba 11. Configuración 12. Calibración y Diagnostico 13. OMICRON Control Center

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Sistema de Pruebas Secundarias

CMC 356 - Hardware

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Sistema de Pruebas CMC 356 Salidas de Tensión

Salidas de Corriente

Fuente de Tensión Auxiliar

Conector Umbilical

Salidas Binarias

Entradas Binarias y de Medición

Entradas de Medición

Botón de Encendido

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Sistema de Pruebas CMC 356 Salidas de Tensión: Cuatro (04) salidas de tensión con una sola conexión común a neutro N y separadas galvánicamente de las demás salidas de la unidad CMC. Todas las salidas de tensión están protegidas frente a circuitos abiertos, cortocircuitos L-N y sobrecarga. Si se sobrecalienta el disipador térmico, un conmutador térmico desactiva todas las salidas. Configuración

Corrientes de Salida

Potencia

Exactitud

CA trifásica (L-N)

3 x 0 ... 300 V

3 x 100 VA a 100 ... 300 V

CA tetrafásica (L-N)

4 x 0 ... 300 V

4 x 75 VA a 100 ... 300 V

Típica: E < 0,03 % rd. + 0.01% rg

CA monofásica (L-N)

1 x 0 ... 300 V

1 x 200 VA a 100 ... 300 V

Garantizada:

CA monofásica (L-L)

1 x 0 ... 600 V

1 x 275 VA a 200 ... 600 V

E < 0,08 % rd. + 0.02% rg

CC monofásica (L-N)

4 x 0 ... ±300 V

1 x 420 W a 300 VCC

Ventajas: Cuarto canal ideal para probar relés de sincronismo. Generación de tensión homopolar en forma automática. ENSYS S.A.C.

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Sistema de Pruebas CMC 356 Generadores de Corriente: Dos (02) salidas de corriente trifásicas separadas galvánicamente, cada una con su propia conexión a neutro (N). Cada salida está separada galvánicamente de las demás conexiones de la unidad CMC 356 y protegidas frente a circuitos abiertos, cortocircuitos y sobrecarga. Configuración

Corrientes de Salida

Potencia

CA hexafásica (L-N)

6 x 0 ... 32 A (A y B)

6 x 430 VA a 25 A

CA trifásica (L-N)

3 x 0 ... 64 A (A + B en CP:)

3 x 860 VA a 50 A

CA bifásica (L-L)

2 x 0 ... 32 A (A y B)

2 x 870 VA a 25 A

CA bifásica (L-L)

1 x 0 ... 64 A (A + B en CP.)

1 x 1740 VA a 50 A

CA monofásica (L-L-L-L)

1 x 0 ... 32 A (A + B en CS.)

1 x 1740 VA a 25 A

CA bifásica (LL-LN)

2 x 0 ... 64 A (A y B)

2 x 500 VA a 40 A

CA bifásica (LL-LN)

1 x 0 ... 128 A (A + B en CP.)

1 x 1000 VA a 80 A

CC bifásica (LL-LN)

1 x 0 ... ±180 A (A + B en CP.)

1 x 1400 W a ±80 A

Exactitud

Típica: E < 0,05 % rd. + 0.02% rg Garantizada: E < 0,15 % rd + 0.05% rg.

Ventajas: Pruebas de reles diferenciales sin la utilización de amplificadores externos. Pruebas de relés electromagnéticos de Alto Burden (1740 VA). Pruebas con alta corriente (128 A).

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Sistema de Pruebas CMC 356 Entradas Binarias / Análogas: Diez (10) entradas binarias divididas en cinco grupos de dos, cada grupo está separado galvánicamente de los demás. Las señales de entrada se supervisan con una resolución de 100 s y después se evalúan en la CPU. Las entradas binarias se configuran en el módulo Configuración del hardware del software OMICRON Test Universe. Al hacerlo, puede especificarse si los contactos tendrán potencial o no. Cuando los contactos tienen potencial, puede fijarse la tensión nominal prevista y el umbral de arranque de cada entrada binaria. Con la opción de hardware ELT-1, todas las entradas pueden configurarse individualmente mediante el software (Enerlyzer) como entradas de medida binarias o analógicas con lo que la unidad CMC puede ser utilizada como: Multímetro. Analizador de armónicos. Registrador de Tendencias. Registrador de perturbaciones de hasta 10 canales. ENSYS S.A.C.

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Sistema de Pruebas CMC 356 Salidas Binarias: Cuatro (04) salidas binarias para su utilización como contactos de relé sin potencial. La posición de cada una de las salidas binarias se configuran con los módulos de prueba del software OMICRON Test Universe Características: Capacidad de Ruptura: 300 V / 8 A. Aplicación: Simular la posición de un interruptor, recloser. Simular una señal externa de un dispositivo externo al equipo en prueba (disparos transferidos, señales de tele protección, etc.)

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Sistema de Pruebas CMC 356 Fuente de Tensión Auxiliar: Los equipos en prueba (por ejemplo, relés de protección) que requieren una tensión auxiliar de CC pueden alimentarse desde la salida AUX DC. La salida AUX DC está separada galvánicamente de las demás salidas. Por medio de la Herramienta de Prueba AUX DC incluida en el software OMICRON Test Universe, puede definirse el valor de tensión deseado. El valor ajustado es guardado en la memoria permanente de la unidad CMC. Unos cuantos segundos después de activar el suministro de alimentación a la unidad CMC, se aplica la tensión establecida a la salida AUX DC. Si la tensión de la salida "AUX DC" supera el valor de 42 V, se enciende el indicador luminoso correspondiente. Características: Rango: 0 … 260 Vcc Potencia: 50 W máximo. Exactitud: E<2% (típico) E<5% (garantizado) Resolución < 70 mV

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Sistema de Pruebas CMC 356 Entradas de Medición CC La opción ELT-1 permite a la unidad CMC 356 medir señales para pruebas básicas de transductores. Las entradas VDC e IDC hacen referencia a un neutro común N. La unidad de medida de CC está aislada galvánicamente de las otras conexiones del panel frontal.

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Sistema de Pruebas CMC 356 Fuente de Alimentación

Fusible T10AH

Interfaz de comunicación

Interfaz externo

Zócalo para conexión de tierra

LL out 1-6

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Sistema de Pruebas CMC 356 Vista Posterior Interfaz de Comunicación NET-1: La opción NET-1, sustituye la interfaz paralela por una interfaz de control de Ethernet, con lo que se puede controlar el equipo a través de una red, así como que se soporta protocolos de comunicación como son: IEC 61850 y UCA 2.0

Interfaz de Comunicación LPT: Comunicación mediante el puerto paralelo (opcional). Garantiza mayor velocidad de transferencia de datos que una comunicación serial.. Cuando se arranca el programa OMICRON Test Universe, éste busca automáticamente el interfaz (LPTx) del PC al que está conectado el dispositivo CMC

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Sistema de Pruebas CMC 356 Vista Posterior Interfaz de Comunicación NET-1: Leds Indicadores A y B: Señalizan el estado de la comunicación. A: Led Amarillo: ON: Se enciende cuando el equipo está listo para ser usado. OFF: El equipo está esperando la transferencia un software de emergencia (luego de haber presionado el botón “!”) B: Led Verde: Se enciende cuando se ha accesado a la memoria interna de la unidad CMC256 Botón Asociación: Presionando este botón, se asocia una PC a la unidad de Prueba. Si este botón es presionado durante el encendido de la unidad CMC, se reinicia la configuración IP y se vuelve al valor de fábrica que es DHCP/AutoIP. Nota: Por seguridad se tienen los siguientes criterios sobre la asociación: Sólo una PC asociada puede controlar una unidad de prueba. Sólo puede asociarse una PC con una unidad de prueba simultáneamente. La asociación requiere una acción intencionada e implica proximidad geográfica. ENSYS S.A.C.

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Sistema de Pruebas CMC 356 Vista Posterior Interfaz de Comunicación NET-1: Puerto ETH1: Interfaz Ethernet de par trenzado de 10/100 Mbit. Con un conector del tipo RJ-45. Por medio de este interfaz se comunica normalmente con una PC para controlar la unidad CMC. El puerto ETH1, tiene la característica “auto-crossing”, que permite se puedan utilizar cables estándar de ethernet o cables del tipo “cross-over” Puerto ETH2: Interfaz de fibra óptica de 100 Mbit. Con un conector del tipo MT-RJ Botón “!” El botón “!” permite que la unidad CMC se recupere de transferencias de información (imagen del software) fracasadas o de otras situaciones de la emergencia. Para reiniciar el equipo y comenzar con una nueva transferencia la imagen del software, presionar el botón “!” durante el ciclo inicial del sistema de la prueba. Si se presiona el botón “!” mientras que opera la unidad CMC, el sistema de la prueba no iniciará la prueba, sino esperará una nueva transferencia

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Sistema de Pruebas CMC 356 Vista Posterior Interfaz Externo: - Dos entradas de contador de alta frecuencia (hasta 100 kHz) para probar contadores. - Cuatro salidas binarias de transistor 11-14. Ofrecen la ventaja, con respecto a las salidas de relé, de presentar tiempos de reacción mínimos sin rebote. - Conexión para accesorios CMLIB B, CMGPS, CMB IO-7

LL out 1-6: - Seis fuentes de señales analógicas de gran precisión que pueden utilizarse, por ejemplo, para controlar amplificadores externos como: CMA 156, CMA 56 y CMS 156. - Todas las salidas de bajo nivel están protegidas contra cortocircuitos y se supervisan continuamente en prevención de sobrecargas.

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Sistema de Pruebas CMC 356 DATOS GENERALES Voltaje:

4 x 0 … 300 V

Corriente:

6 x 0 … 32 A

Error :

• Tensión: Garantizado < 0.08% rd. + 0.02% rg. Típico

< 0.03% rd. + 0.01% rg.

• Corriente: Garantizado < 0.08% rd. + 0.02% rg. Típico

< 0.03% rd. + 0.01% rg.

Estabilidad en Temperatura 0.002%/Grado Protecciones internas (Sobrecarga, corto, I abierta, alto burden) Calibracion Digital (no requiere caja de calibración) Bajo nivel de ruido. Liviano, 16.6 Kgs

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Software


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SOFTWARE OMICRON TEST UNIVERSE

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Estructura de Directorio: Cuando se instala el software OMICRON Test Universe en su computadora, por defecto se instala en la carpeta: “Archivos de Programa\Omicron”

La Licencia es grabada en la carpeta: “Archivos de Programa\Archivos comunes\Omicron”.

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Estructura de Directorio: El software de Instalación crea cuatro subcarpetas principales: Archivos de Programa\Omicron\APPS: Contiene los archivos ejecutables, la ayuda en línea asociada al OCC, Módulos de prueba, Herramientas de prueba, y Utilitarios. Estos programas típicamente son iniciados desde la Página de Inicio o desde un documento de prueba

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Estructura de Directorio: El software de Instalación crea cuatro subcarpetas principales: Archivos de Programa\Omicron\APPS: Archivos de Programa\Omicron\CMEngine: Contiene herramientas y archivos de ayuda para la interfaz de programación del Hardware CMC-256.

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Estructura de Directorio: El software de Instalación crea cuatro subcarpetas principales: Archivos de Programa\Omicron\APPS: Archivos de Programa\Omicron\CMEngine: Archivos de Programa\Omicron\Doc: Contiene la documentación técnica como manuales, especificaciones, etc. en formato PDF.

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Estructura de Directorio: El software de Instalación crea cuatro subcarpetas principales: Archivos de Programa\Omicron\APPS: Archivos de Programa\Omicron\CMEngine: Archivos de Programa\Omicron\Doc: Archivos de Programa\Omicron\Librería de Pruebas: Contiene las “plantillas” de prueba, ejemplos de Archivos de Prueba, archivos con las características de los Equipos en Prueba “RIO”, archivos con la configuración de hardware “OHC” y los archivos usados por el TEST WIZARD para la generación de Planes de Prueba del OCC.

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PRUEBA DE RELES EN TRES PASOS 1- Objeto a Probar 2- Configuración de HW 3- Ejecución del Módulo de Prueba

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1: Objeto a Probar En este primer paso debemos ingresar:

• Los datos generales del relé como son: tipo de protección, marca, número de serie, valores nominales de tensión y corriente, valores máximos permitidos.

• Ajustes de la

protección a probar.

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2: Configuración del Hardware En este paso definimos el conexionado entre el rele y el equipo de pruebas

• Configuramos

cableado, potencia disponible, tensión de cumplimiento, etc. de la CMC

•Salidas Activadas. •Entradas Binarias activadas, etc.

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3: Ejecución del Módulo de Prueba Adicionar los puntos de prueba

Los Fasores pueden ser mostrados para cada punto de prueba

Con sólo un Click iniciamos la prueba

El Reporte es generado automaticamente

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3: Ejecución del Módulo de Prueba

Datos del equipo en prueba Resultados tabulados Resultados Gráficos Resumen

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PRUEBA DE RELES EN TRES PASOS

+

+

=

Reporte de pruebas, Plan de Pruebas Nueva plantilla de pruebas

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE Quick CMC

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Quick CMC

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Quick CMC Pruebas manuales, fáciles y rápidas. - Control simultáneo de todas las fuentes (V, I) - Función de estado estable, por pasos o de rampa para todas las magnitudes - Cálculo de falla, con diferentes modos de funcionamiento. - Diagrama vectorial y plano de impedancias.

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Barra De Herramientas Del QuickCMC

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Quick CMC Val. relativos Val. absolutos Val. en el secundario Val. en el primario Tiempo en ciclos Tiempo en segundos Ayuda Temas de Ayuda Borrar resultados de la prueba Modificar resultados de la prueba Adicionar resultados al informe (F10)

Congelar valores actuales de las fuentes Valores de Pre-Falta Encendido / Apagado de las Fuentes Configurar Hardware Configurar Objeto en prueba Activar Vista de Impedancia

Guardar Abrir Nuevo

Activar Vista del Diagrama Vectorial Activar Vista de la Prueba Activar Vista del informe

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Quick CMC VENTANA DE PRUEBA

1

Salidas Analógicas

2 Entradas Binarias 3

3 Salidas Binarias

6

1

7 4

4 Entradas Analógicas 5 Ventana de rampa 6 Diagrama vectorial 7

Barra de Sobrecarga

2 5 8

8 Historia de estado

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Quick CMC

SALIDAS ANALOGICAS CONFIGURACION

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Quick CMC Vista del Diagrama Vectorial:

Vista de Impedancia

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

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Quick CMC

1. Configuración del Objeto en Prueba En este primer paso debemos ingresar:

•Los datos generales del relé como son: tipo de protección, marca, número de serie, ubicación.

•Valores nominales de frecuencia, tensión y corriente en el lado primario y secundario.

•Valores máximos permitidos de tensión y corriente.

•Configuración del filtro antirebote y antiruido

•Configuración del nivel de sensibilidad de protección de la CMC

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Quick CMC

2. Configuración del Hardware de Prueba Definimos configuración del equipo de pruebas y el conexionado entre el relé y el equipo de pruebas.

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Quick CMC

2. Configuración del Hardware de Prueba (…continuación)

En “DETALLES” El software nos permite seleccionar: cableado, potencia disponible, tensión de cumplimiento, etc. de acuerdo al equipo en prueba y la prueba a realizar.

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Quick CMC


“SALIDAS ANALÓGICAS” Especificamos las salidas que queremos estén activas, etiquetas, y bornes al que están conectadas.

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Quick CMC


“ENTRADAS BINARIAS” Especificamos: Entradas binarias habilitadas para operar Tipo de entrada (contacto seco o con tensión) Tensión umbral y tensión nominal si son contactos con tensión Etiqueta y borne de conexión.

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Quick CMC


“SALIDAS BINARIAS” Especificamos: Salidas binarias requeridas para la prueba Etiqueta y borne de conexión. Se utilizan para simular la posición del interruptor o de un contacto auxiliar requerido por la protección a probar.

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Quick CMC


“IRIG-b y GPS” Especificamos si deseamos que la prueba se inicie con la recepción de un pulso proveniente de un GPS, IRIG-B, GPS + IRIG-B Se utiliza para realizar pruebas sincronizadas en el tiempo

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Quick CMC

3. Ejecución de la prueba

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Quick CMC

3. Ejecución de la prueba (… continuación)

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Quick CMC Rampas con QuickCMC

Rampa manual o automática

Pulse-Ramping

tamaño

tamaño

hora

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Quick CMC

Menú Prueba: Desactivar Salidas con Trigger

“Desactivar Salidas” Activado Caso 1: Retardo igual a 0 s. Caso 2: Retardo igual a “retardo” s. Durante este tiempo se siguen registrando cambios en las entradas binarias

“Desactivar Salidas” Desactivado Caso 3: Retardo igual a 0 s Luego de recibir la señal de trigger, no se registra ningún cambio en las entradas binarias Caso 4: Retardo igual a “retardo” s. Durante este tiempo se siguen registrando cambios en las Caso 2 entradas binarias Caso 1

Caso 3 y 4

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Quick CMC Menú Prueba: Desactivar según tiempo

Menú Prueba: Parar Rampa en Cero

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Quick CMC Menú Prueba: Modificar Resultados de la Prueba

Menú Prueba: Informe Automático El Esta función añade automáticamente al informe de la prueba todos los datos y valores actuales en el momento en que se produce la señal de trigger (incluido el trigger en los estados Reposición y Pre-falta). Los datos se añaden al informe de la prueba con títulos con numeración creciente (Prueba 1, Prueba 2…) y sin evaluación.

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Para cualquier información en el Perú:

• Calle Bolognesi Nº 125 – Lima 18 - Perú • Tel.: 51 1 6523572 / 6523573 • Fax: 51 1 6380347 • Email: [email protected] • Web: www.ensys.pe

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE Ramping

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Ramping

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Ramping Generación de rampas de amplitud, fase o frecuencia - Prueba automatizada utilizando secuencias de rampa - Rampas simultáneas para dos variables independientes. - Duración mínima del paso de hasta 1 ms - Control visual de los valores de salida. - Visualización de los resultados de la prueba. - Evaluación automática de los resultados. - Función de repetición de la prueba con cálculos estadísticos - Cálculos de relación de los valores de rampa. - Función de “Paso atrás”

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Ramping

Barra De Herramientas

Ir al último estado Ir al siguiente estado Estado actual Ir al estado previo Ir al primer estado Borrar resultados de la prueba Pausar la prueba Parar prueba Iniciar / Continuar prueba Configurar Hardware Configurar Objeto en prueba Activar Vista de Oscilografía Activar Vista de Medidas Activar Vista de Detalle Activar Vista de la Prueba Activar Vista del informe

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Ramping Ventanas de Ramping 1

Vista de la prueba

2

Vista de Detalle

3

Vista de Medidas

4 Vista de Oscilografía

2

7

1 4

5

Entradas Binarias

6 Historial de estado 7 Barra de Sobrecarga

3 6

5

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Vista de la Prueba

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Ramping

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Vista de Detalle


Ramping

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Vista de Medidas

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Ramping

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Ramping

Vista de Oscilografia

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Ramping

Prueba con Ramping

IMPORTANTE: Previamente a la realización de la prueba debe configurarse el Objeto

y Hardware

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Prueba con Ramping (… continuación)


Ramping

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Prueba con Ramping (… continuación)

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Ramping

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Marzo Jun-10 - 2008

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Forzar Fases Absolutas


Ramping

“Forzar Fases Absolutas” Activada La rampa 2 comienza con el valor del ángulo de fase programado como inicio de la rampa 2: U1 = 0° . U2 = -120° y U3 = 120°

“Forzar Fases Absolutas” Desactivada La rampa 2 comienza con un valor del ángulo de fase de: U1 = 30° + 0° = 30°. U2 comienza con -90° (en vez de -120°) y U3 con 150° (en vez de 120°)

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Forzar Fases Absolutas

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Ramping

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Marzo Jun-10 - 2008

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Funcion “Paso Atrás”


Ramping

Sirve para determinar el valor exacto del disparo con más rapidez que si se usa una rampa con un tamaño del paso muy pequeño para el rango completo.

Tras la aparición del trigger, la opción ‘Paso atrás’ inicia el siguiente estado de la rampa de la siguiente manera: Primero va hacia atrás con hasta el nivel en el cual se revierte la condición del trigger (p. ej. el evento inicial del trigger ha sido arrancar un contacto del relé que ya está repuesto de nuevo) Entonces se inicia el siguiente estado de rampa con un paso de tamaño diferente (generalmente más pequeño significativamente). ENSYS S.A.C.

Opcion “Retardo despues del trigger trigger” ”

Marzo Jun-10 - 2008

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Ramping

Si se ajusta el parámetro “Retardo después del trigger”, se pospone el comienzo de la rampa siguiente por un tiempo “t” durante el cual se inyecta una señal estática igual al valor en el momento del trigger.

El retardo de tiempo puede ajustarse dentro de un rango desde 1 ms hasta 10056 s.

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Ramping “Retardo despues del trigger + Paso Atras Atras”” Si se ajusta el parámetro “Paso Atras” y además el parámetro “Retardo después del trigger”, tenemos: Al producirse una senal de trigger para el estado actual, la rampa retrocede un paso. Se inicia el tiempo de retardo, durante el cual se inyecta la señal estática. Una vez transcurrido el tiempo de retardo, se inicia el siguiente estado de rampa.

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE State Sequencer

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State Sequencer

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State Sequencer Elaboración de pruebas automaticas mediante secuencias de estado (especial para probar tiempos de actuación). Prueba automatizada de cualquier tipo de falla u evento utilizando secuencias de estado (pre-falta, falta, post-falta, etc) Permite probar todas las funciones de protección de un relé multifunción, panel de protección, Subestación, etc. Secuencias de mas de 500? estados Señal de disparo, inició por GPS. Control independiente de todas las señales (magnitud, fase, frecuencia) por cada estado. Evaluación automática de los resultados.

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State Sequencer Eliminar estado actual Copiar estado actual Ir al último estado Ir al sgte estado Estado actual Ir al estado previo Ir al primer estado Borrar resultados de la prueba Pausar la prueba Parar prueba Iniciar / Continuar prueba Bucle de Todos los Estados Encendido/Apagado (Salida Estática) Activar CMGPS Configurar Hardware Configurar Objeto en prueba Activar Vista de Oscilografía Activar Vista de Medidas Activar Vista de Impedancia Activar Vista del Diagrama Vectorial Activar Vista de Detalle Activar Vista del Informe Activar Vista de la Prueba

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State Sequencer Ventanas de State Sequencer 1

Vista de la prueba

2

Vista de Detalle

3

Vista de Medidas

4

Vista de Oscilografía

1 2

5

Diagrama vectorial

6

Entradas Binarias

7

4 5

7

Barra de Sobrecarga

8

Historia de estado

3 6

8

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State Sequencer Vista de la Prueba

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State Sequencer Vista de Detalle

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State Sequencer Vista de Medidas

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State Sequencer Vista de Oscilografia

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State Sequencer Vista del Diagrama Vectorial

Vista de Impedancia

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Secuencia de Prueba


State Sequencer


y Hardware

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Secuencia de Prueba (continuacion) continuacion)

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State Sequencer

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State Sequencer

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State Sequencer

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE Overcurrent

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Overcurrent

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Overcurrent Prueba manual o automática de reles direccionales y no direccionales con tiempo definido y tiempo inverso, térmico I2t y curvas características definidas por el usuario Visualización de la característica tiempo - corriente del rele Visualización grafica de los valores de salida en diagrama vectorial. Prueba con modelos de secuencia positiva, negativa y cero. Prueba con o sin corriente de carga. Evaluación automática para cada punto de prueba basada en la tolerancia del tiempo de disparo predefinida. Generación automática de informes.

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Overcurrent


Borrar resultados de la prueba Pausar la prueba Parar prueba Iniciar / Continuar prueba

Salida Estática Iniciar Prueba Individual

Configurar Hardware Configurar Objeto en prueba

Activar Vista del Diagrama Vectorial Activar Vista de la Prueba Activar Vista del Informe

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Overcurrent Ventanas de Overcurrent 1

Vista de la prueba

2 Diagrama Vectorial 3 Vista del informe 4 Entradas Binarias 5

5 Barra de Sobrecarga 6 Historia de estado

1

2

3 4

6

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Vista de la Prueba

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Vista de la Prueba


Overcurrent

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Vista de la Característica

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Overcurrent Objeto en Prueba

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Overcurrent Objeto en Prueba Conexión del TP:

Punto de Estrella TC:

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Overcurrent Configuracion de los puntos de prueba Punto a Punto:

Añadir barrido barrido::

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Overcurrent Configuracion de los puntos de prueba Gráficamente:: Gráficamente

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Overcurrent Ejecucion de la Prueba - Individual:


y Hardware

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Overcurrent Ejecucion de la Prueba – Salida Estatica Estatica::


y Hardware

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Overcurrent Ejecucion de la Prueba - Barrido:


y Hardware

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Overcurrent Ejecucion de la Prueba: (… continuacion)

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Overcurrent Evaluación de la Prueba - Tolerancias:

Evaluación de la Prueba - Simbolos:

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OMICRON TEST UNIVERSE Advaced Distance

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Advanced Distance

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Advanced Distance Permite definir de forma eficaz los documentos de prueba, para ejecutarlos automatizarlos y documentar los resultados. Proporciona las mismas características del Modulo “Distance”, al que se le han agregado funciones avanzadas. Modos de Disparo, Búsqueda y Verificación de la característica Ajuste de la impedancia como porcentaje de los alcances de la zona. Visualización de: característica de operación, diagrama Z/t, diagrama Vectorial, Oscilografia, etc para un mejor análisis de los resultados. Prueba de todos los lazos de falta con un solo click. Representación grafica y numérica de los resultados Evaluación automática para cada punto de prueba basada en la tolerancia de Impedancias y tiempo de disparo predefinida. Generación automática de informes.

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Advanced Distance

Borrar resultados de la prueba Pausar la prueba Parar prueba Iniciar / Continuar prueba Salida Estatica Iniciar Prueba Individual Configurar Hardware Configurar Objeto en prueba Activar Vista de Oscilografia Activar Vista de diagrama Vectorial Activar Vista de Diagrama Z/t Activar Vista de la Prueba Activar Vista del Informe

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Advanced Distance Ventanas de Distance 1

Vista de la prueba

2

Vista de Impedancia

3

Diagrama vectorial

4

Diagrama Z/t

5

Entradas Binarias

6

Barra de Sobrecarga

7

Historia de estado

1 6 2

3

4

7

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5

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Advanced Distance Objeto en Prueba Dispositivo:

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes

del Sistema:

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes del Sistema: Conexión del TP:

Punto de Estrella TC:

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes del Sistema: Tolerancias: Se usa el valor máximo derivado de la tolerancia de tiempo absoluta o relativa. Para la tolerancia del tiempo de disparo se usa la mayor tolerancia de tiempo, ya sea, absoluta positiva (o negativa), o la relativa. La tolerancia de tiempo relativa ”real” se determina para cada tiempo de disparo registrado. Para la tolerancia de la impedancia se usa la mayor tolerancia de la impedancia relativa y absoluta. La banda de la tolerancia ‘relativa’ real se determina para cada zona en el ángulo de la línea. La tolerancia más grande se aplica uniformemente (es decir, paralela a ambos lados y alrededor de la característica nominal) para producir la banda de tolerancia característica

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes del Sistema: Factor de Puesta a Tierra: El factor de puesta a tierra (o factor de compensación de falta a tierra) compensa la diferencia entre las impedancias de falta a tierra y las impedancias de falta entre fases medidas por el relé. Es aplicable solamente para las faltas monofásicas a tierra.

Seleccionar el modo correcto es decisivo e influye en aquellos puntos que no están en el ángulo de la línea

Separar Resistencia de Arco: Requerido para quellos relés que tratan la resistencia de arco por separado de la parte de impedancia de la línea.

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes de Zona:

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes de Zona: Zonas:: Zonas La lista de zonas contiene todas las zonas especificadas para todos los bucles de falta. Para añadir una zona nueva, haga clic en el botón "Nuevo". Para eliminar una zona seleccionada, haga clic en el botón "Eliminar“ Para editar los parámetros, o modificar la característica de la zona seleccionada, haga clic en el botón Edición.... Zona de disparo

Es el tipo más común. Tiene un tiempo de disparo correspondiente asociado.

Zona de inicio

está normalmente fuera de todas las zonas de disparo. Tiene un tiempo de arranque asociado, que dispara el relé en un tiempo de reserva.

Zona extendida

es similar a una zona de disparo; sin embargo, sólo se activará si se selecciona la opción ”Zonas extendidas activas” en la página Prueba / Ajustes.

Zona de no-disparo se puede usar para indicar las zonas únicamente con carácter informativo o para definir las secciones de una zona de disparo, donde no está permitido hacer disparos (p. ej., una zona con cargas superpuestas). Zona

define qué zonas se corresponden. Si el mismo punto de prueba relativo se debe aplicar a un grupo de zonas (p. ej. todas las fases y las características de falta a tierra de la zona X), es necesario definir qué características de falta a tierra y qué características de falta entre fases pertenecen a la zona X. Los identificadores de las zonas disponibles son: ZS1 ... ZSn Zonas de inicio, Z1 ... Zn Zonas de disparo, ZE1 ... ZEn Zonas extendidas, y ZN1 ... ZNn Zonas de no disparo.

Etiqueta

Designación de la zona individual usada para una identificación de aplicación relacionada.

Bucle de falta

Especifica los tipos de falta para los cuales son válidos los ajustes. Es posible especificar ajustes diferentes para cada bucle de falta de una zona.

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes de Zona: Detalles de la zonas: zonas: Introduzca el Tiempo de disparo para la zona seleccionada. Además de la banda de tolerancia ajustada en la página Ajustes del sistema, que es válida para todas las zonas, la tolerancia se puede modificar aquí para cada zona. Para las tolerancias de una zona, los ajustes globales se toman como valores por defecto. Si una zona requiere un ajuste de tolerancia específico, active la casilla de verificación correspondiente y luego introduzca el valor que desee.

Caracteristica de la zonas zonas:: Las características de una zona pueden consistir en “n” combinaciones de elementos de línea, círculo o arco. Están disponibles los siguientes tipos de elementos: • Línea definida en coordenadas cartesianas: especificada por medio de un ángulo en grados (°) y un punto en la línea. El punto se define por medio del valor X y el valor R, ambos en ohmios. • Línea definida en coordenadas polares:especificada por medio de un ángulo en grados (°) y un punto en la línea. El punto se define por el valor absoluto |Z| en ohmios y el ángulo Phi en grados. • Circulo:define un círculo por el centro del mismo y su radio. El centro se puede definir en coordenadas polares (arco polar) con |Z| y Phi, o con R y X en coordenadas cartesianas (arco rectangular). Si se tiene que definir un arco, es necesario especificar un ángulo inicial y uno final.

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes de Zona: Caracteristicas predefinidas - Mho: La característica se especifica como un círculo con radio r = (Alcance hacia adelante + Offset)/2. El centro del círculo M = (Alcance hacia adelante - Offset)/2, que se encuentra en la línea especificada por el ángulo del relé de la característica.

• Alcance

alcance (en ohmios) hacia la línea

• Offset

alcance (en ohmios) hacia la barra.

• Ángulo

ángulo del relé de la característica, en grados (°).

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes de Zona: Caracteristicas predefinidas - Poligonal: La característica poligonal o de cuadrilátero ofrece más flexibilidad en la simulación independiente del alcance reactivo y resistivo. El polígono básico se basa en 4 líneas combinadas. Se pueden introducir las líneas individuales en formato polar o cartesiano. Se pueden añadir más elementos de línea si la característica consta de más elementos de línea. Los elementos de línea tienen que introducirse consecutivamente, en sentido de las agujas del reloj, alrededor de una característica, de forma que el software calcule correctamente los puntos de intersección. Si es necesario definir una característica ”cerrada”, seleccione Cerrar figura. Esto garantiza que el último elemento de la lista se configura automáticamente como si la característica estuviera cerrada.

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Advanced Distance Objeto en Prueba Distance – Ajustes de Zona: Caracteristicas predefinidas – Lente o Tomate: La característica lentes permite en concreto una mejor adaptación a un área más grande comparada con la impedancia pura o característica Offset-MHO.

• Alcance alcance (en ohmios) hacia adelante (linea). • Offset

alcance (en ohmios) hacia la barra.

• Ángulo ángulo del relé de la característica, en grados (°). • Ancho A ancho de la característica (en ohmios) • A/B

relación de “A” con la longitud B = alcance + offset

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Advanced Distance Vista de Diagrama Vectorial

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Advanced Distance Vista de Diagrama Z/t

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Advanced Distance Vista de Oscilografía

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de disparo: La “Prueba de Disparo” de Advaced Distance permite procesar secuencialmente los puntos de prueba definidos en el plano de impedancia para verificar la correcta operación de Reles de Distancia

Tipo de Prueba (Vcte, Icte, Zcte) Tiempo Mín y Máx. de operación Desviación de la prueba Tiempo real de Operación Tiempo nominal de Operación Zona de referencia Impedancia porcentual relativa Impedancia de Prueba Lazo de falta actual Resultado de la Prueba

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de disparo – Configuración de la Prueba: Mediante el Teclado: Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

Punto a Punto a cualquier tipo de falta:

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de disparo – Configuración de la Prueba: Gráficamente:

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de Verificación: En la “Prueba de Verificación” de Advaced Distance, los puntos de prueba se establecen automáticamente en los límites de tolerancia de las zonas, posibilitando una rápida verificación del cumplimiento de las especificaciones, lo que es muy útil durante las pruebas de rutina

Zona de referencia Longitud relativa de la Linea de Verificación Longitud de la Línea de Verificación Angulo de la Línea de Verificación Impedancia del Punto de Origen Lazo de falta actual Resultado de la Prueba

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de Verificación – Configuración de la Prueba: Numéricamente Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

Punto a Punto a cualquier tipo de falta

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de Verificación – Configuración de la Prueba: Numéricamente Secuencia de Prueba:

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de Verificación – Configuración de la Prueba: Gráficamente en el Plano de Impedancia Para añadir una línea de prueba a la Lista de prueba, pulsar y con el botón izquierdo del mouse pulsado arrastrar una línea de prueba con el ángulo y longitud deseado. Para ejecutar una prueba de verificación individual, pulsar y con el botón izquierdo del mouse pulsado arrastrar una línea de prueba con el ángulo y longitud deseado. La prueba se inicia apenas se deje de pulsar el botón izquierdo del mouse.

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de Busqueda Con la “Prueba de Busqueda” de Advaced Distance, se puede determinar automáticamente el alcance exacto de las zonas individuales. Para ello se aplica varios disparos a lo largo de una línea de búsqueda. El número de disparos se calcula automáticamente utilizando la resolución de búsqueda (ver ajustes).

Zona de referencia Longitud relativa de la Linea de Verificación Longitud de la Línea de Verificación Angulo de la Línea de Verificación Impedancia del Punto de Origen Lazo de falta actual Resultado de la Prueba

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de Busqueda – Configuración de la Prueba: Numéricamente Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

Punto a Punto a cualquier tipo de falta

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de Busqueda – Configuración de la Prueba: Numéricamente Secuencia de Prueba:

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Advanced Distance Vista de la Prueba Prueba de Busqueda – Configuración de la Prueba: Gráficamente en el Plano de Impedancia Para añadir una línea de Búsqueda a la Lista de líneas de búsqueda, haga un clic izquierdo + arrastre el ratón para definir una línea de búsqueda partiendo del punto de origen hasta la longitud deseada.. Utilice Añadir para añadir la deseada posición en la lista de líneas de búsqueda búsqueda.. Para añadir directamente una línea de búsqueda a la lista, presione Ctrl + clic izquierdo + arrastre el ratón desde el origen hasta la longitud deseada para la búsqueda

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Advanced Distance Vista de la Prueba Ajustes:

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Advanced Distance Vista de la Prueba Ajustes: El ajuste de la corriente de carga tiene como finalidad verificar el comportamiento excepcional de determinados reles (Ejem. SEL 421) que reaccionan de forma diferente si hay corrientes durante la pre-falta. Cuando se activa la corriente de carga, esta se aplica durante toda la secuencia de prueba (pre-falta y falta), durante la falta la corriente de carga se superpone a las magnitudes de falta.

La búsqueda para la impedancia de búsqueda actual se para, si la diferencia en la impedancia entre dos disparos consecutivos, ambos identificados en zonas diferentes, es menor que la resolución de búsqueda ajustada Al ejecutar una prueba de búsqueda de características nominales conocidas, los disparos iniciales que se buscan para los alcances de zona están situados en los límites de tolerancia de los alcances de zona. Si no se conocen características nominales del relé, entonces los disparos iniciales están situados a distancias fijas de intervalos de búsqueda sobre la línea de búsqueda. Si se espera un alcance de zona entre dos disparos, entonces se prueba desde la resolución de búsqueda especificada. Incluso si hay zonas definidas para un relé, se puede usar la opción para ignorar las características, a fin de alcanzar el mismo comportamiento que con características desconocidas.

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Advanced Distance Vista de la Prueba Trigger:

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE Advaced Differential

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Advanced Differential

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Advanced Differential El software Advanced Differential es una familia de módulos de prueba para verificar los relés diferenciales de protección. Se han creado módulos de prueba específicos para probar características específicas de un relé diferencial. Diff Configuration sirve principalmente para poner en servicio sistemas diferenciales de protección, o para encontrar una falta de la configuración o del cableado. Con este módulo se pueden detectar y corregir todas las faltas que están ubicadas en el bastidor de protección (incluidos los transformadores interpuestos). Diff Operating Characteristic se usa para verificar la función adecuada de la característica de operación de la protección diferencial. Este módulo prueba la capacidad del relé para diferenciar entre faltas dentro de la zona protegida y faltas fuera de esas zonas usando las tolerancias del dispositivo de protección. Diff Trip Time Characteristic verifica si los tiempos de disparo de la protección diferencial están dentro de las bandas de tolerancia. El módulo de prueba ofrece la posibilidad de determinar el tiempo de disparo para un par de valores Idiff / Ipol determinado. Diff Harmonic Restraint se usa para verificar el comportamiento correcto del relé de frenado por armónicos de la protección diferencial, por ejemplo, en las funciones del relé de avalancha y sobreflujo/sobrexcitación. La prueba tiene por objeto verificar los parámetros de la característica de frenado por armónicos ixf = f(Idiff).

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Advanced Differential Objeto en Prueba

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Advanced Differential Objeto en Prueba Differential – Ficha Disp. De Protección: El cálculo de la corriente de polarización se trata de distintas maneras por los diferentes fabricantes de relés: Método

Fabricante

(|Ip|+|Is|)/K1

Serie de relés digitales Siemens 7UT51..., K1=1 Serie de relés digitales GEC KBCH..., K1=2 SEL serie de relés digitales Schweitzer SEL5..., K1=2

(Ip+Is)/K1

Serie de relés digitales AEG PQ7...: K1=2

(|Ip|+|Is|*K2)/K1

Relé digital GE Multilin SR 745

Varios relés convencionales: K1=1 K2 por el momento fijado en 1, K1=2 y para transformadores de tres devanados K1=3 máx (|Ip|, |Is|)

Serie de relés digitales ELIN DRS...: K1=1

La función ‘Duración máx. prueba.’ restringe el tiempo máximo de prueba para proteger el relé. Tiempo de retardo es el tiempo entre pruebas sucesivas que necesita el relé para su rearme. La eliminación de homopolar es relevante solamente para faltas monofásicas. Se puede ajustar también como: IL - I0: Corriente de línea – corriente homopolar Transformador interpuesto YD Transformador interpuesto YDY ninguno Para probar el comportamiento sin eliminar el homopolar, se debe ajustar ninguno.

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Advanced Differential Diff Configuration El módulo Diff Configuration prueba

el

cableado

configuración del equipo

y

la en

prueba mediante la simulación de faltas localizadas fuera de la zona protegida. Si, no obstante, en un caso de prueba de este tipo el relé dispara, esto indica un error de la configuración o del cableado dentro del bastidor de protección.

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Advanced Differential Diff Configuration Ventana Datos de Prueba En esta ventana se introducen los valores Ipru para los cuales se tiene que realizar un paso de prueba. Se puede añadir puntos de prueba, para ellos introdúzcalos en el campo Ipru y luego haga click en el boton Añadir. Se puede añadir una secuencia de puntos de prueba pulsando el botón Añadir barrido

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Advanced Differential Diff Configuration Ventana Prueba Aquí se configura los valores que el operador va a leer/medir e introducir en los campos de entrada durante la prueba. Los campos de entrada cambian dependiendo del tipo de datos seleccionado. Los datos introducidos son almacenados e incluidos en el informe.

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Advanced Differential Diff Configuration Ventana General Aquí se configura que devanados deben probarse, cúal es el lado de falta y cual es el lado de suministro, la corriente de carga y el tiempo máximo de la prueba. Todas las pruebas son posibles cuando esta implicado el devanado primario. Por lo tanto, resultan dos posibilidades de prueba para transformadores de dos devanados y cuatro para transformadores de tres devanados.

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Advanced Differential Diff Configuration Ventana Salida Binaria Aquí se configura la posición de las salidas binarias habilitadas en la opción de hardware.

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Advanced Differential Diff Configuration Ejecución de la Prueba 1. Ajuste los parámetros de Equipo en prueba 2. Ajuste la Configuración del hardware 3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados: Asegúrese de que en la “ficha General” de los parámetros de la prueba “Diff Configuration “la dirección de la prueba y los devanados incluidos en la misma se hayan ajustado correctamente. 4. Opcionalmente, Ajuste un tiempo de prueba máximo en la “ficha General” para el proceso de prueba. Este parámetro actúa como protección para el relé. 5. En la ficha “Datos de prueba” , defina puntos de prueba (corrientes de falta Ipru) y el tipo de falta que desee. 6. Inicie la prueba con Prueba. Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientes se muestran en el diagrama.

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Advanced Differential Diff Configuration Ejecución de la Prueba 7. Opcionalmente, Si el informe debe contener las corrientes del lado primario o del secundario, o las corrientes diferenciales y de polaridad: Introduzca los valores de corriente que se leen o miden en el relé en la “ficha Prueba”. 8. Ajuste los parámetros de Equipo en prueba Evalúe el resultado en las fichas “Prueba” o “Datos de prueba” como "correcto" o "incorrecto". 9. Repita estos procedimientos hasta que probar todos los puntos de prueba. 10. Puede ver los vectores de corriente cambiando al diagrama vectorial 11. Podrá ver el informe cambiando a la vista Informe

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Advanced Differential Diff Operating Characteristic La característica de operación se prueba simulando faltas dentro y fuera de la zona protegida. Existen dos modos de prueba: • Modo de prueba de disparo • Modo de prueba de búsqueda Los puntos de la prueba determinan los disparos o las búsquedas.

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Advanced Differential Diff Operating Characteristic Ventana Prueba de Disparo Los puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen en la tabla y el software mide e introduce los tiempos de actuación tact

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Advanced Differential Diff Operating Characteristic Ventana Prueba de busqueda Se configura los puntos de prueba en función de Ipol para un par de valores Idiff/Ipol y el software mide e introduce los valoresde Idiff encontrados en la prueba de búsqueda.

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Advanced Differential Diff Operating Characteristic Ventana General Aquí se configura si se ha de considerar o no la característica nominal del rele bajo prueba, la corriente y el tiempo de pre-falta, la condición del trigger, etc.

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Advanced Differential Diff Operating Characteristic Ventana Salida binaria Aquí se configura la posición de las salidas binarias habilitadas en la opción de hardware.

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Advanced Differential Diff Operating Characteristic Ejecución de la Prueba en el Modo de Disparo 1. Ajuste los parámetros de Equipo en prueba 2. Ajuste la Configuración del hardware 3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados: Asegúrese de que en la ficha “General” de los parámetros de la prueba “Diff Operating Characteristic” la dirección de la prueba y los devanados incluidos en la misma se hayan ajustado correctamente. 4. Opcionalmente, En la ficha “General” de los parámetros de la prueba, ajuste un estado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la "I de pre-falta“) 5. En la ficha “Prueba de Disparo” , especifique los puntos de prueba (pares de valores Idiff/Ipol) y el tipo de falta de interés. 6. Inicie la prueba con Prueba. Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientes se resaltan en el diagrama. 7. Es posible realizar la prueba de un punto individual

o una salida estática

8. Podrá ver el informe cambiando a la vista Informe ENSYS S.A.C.

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Advanced Differential Diff Operating Characteristic Ejecución de la Prueba en el Modo de Busqueda 1. Ajuste los parámetros de Equipo en prueba 2. Ajuste la Configuración del hardware 3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados: Asegúrese de que en la ficha “General” de los parámetros de la prueba “Diff Operating Characteristic” la dirección de la prueba y los devanados incluidos en la misma se hayan ajustado correctamente. 4. Opcionalmente, En la ficha “General” de los parámetros de la prueba, ajuste un estado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la "I de pre-falta“) 5. En la ficha “Prueba de Busqueda” , especifique los puntos de prueba (Ipol), el tipo de falta de interés y la resolución de búsqueda deseada 6. Inicie la prueba con Prueba. Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Se prueba la línea Ipol correspondiente con diferentes valores Idiff en el gráfico. 7. Es posible realizar la prueba de un punto individual


8. Podrá ver el informe cambiando a la vista Informe ENSYS S.A.C.

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Advanced Differential Diff Trip Time Characteristic La prueba de característica del tiempo de disparo abarca las faltas de simulación dentro y fuera de la zona protegida. Por lo tanto, se toman en cuenta las tolerancias del dispositivo introducidas. Usando la tabla de la prueba, se prueban puntos específicos de la característica de operación para sus tiempos de disparo. La prueba se presenta a lo largo de la línea de prueba en el plano Idiff/Ipol. Una corriente diferencial Idiff especifica cada punto de prueba individual. El valor correspondiente Ipol resulta de la posición de la línea de prueba. Para cada punto de prueba, el tiempo de disparo se mide y se evalúa.

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Advanced Differential Diff Trip Time Characteristic Ventana Prueba Los puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen a partir del ingreso de la Idiff en la tabla de prueba y el software mide e introduce los tiempos de disparo.

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Advanced Differential Diff Trip Time Characteristic Ventana General Aquí se configura si se ha de considerar o no la Corriente de pre-falla, la pendiente de la linea de prueba y la condición del trigger.

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Advanced Differential Diff Trip Time Characteristic Ventana Factores Aquí se configura si se ha de considerar o no factores de tolerancia y lo svalores de estos. Estos valores reemplazan a los valores configurados en el Objeto de Prueba.

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Advanced Differential Diff Trip Time Characteristic Ventana Salida binaria Aquí se configura la posición de las salidas binarias habilitadas en la opción de hardware.

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Advanced Differential Diff Trip Time Characteristic Ejecución de la Prueba 1. Ajuste los parámetros de Equipo en prueba 2. Ajuste la Configuración del hardware 3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados: Asegúrese de que en la ficha “General” de los parámetros de la prueba “Diff Operating Characteristic” la dirección de la prueba y los devanados incluidos en la misma se hayan ajustado correctamente. 4. Opcionalmente, En la ficha “General” de los parámetros de la prueba, ajuste un estado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la "I de pre-falta“) 5. Si se desea ajustar tolerancias especiales para esta prueba, en la ficha “Factores” , ajuste los factores de Idiff y tdiff y active “Usar factores de evaluación”. (Nota: estos factores reemplazan a las tolerancias del dispositivo ajustadas globalmente). 6. Ajuste la "Pendiente de la línea de prueba" en la ficha “General” . (Pendiente de la línea de prueba = Idiff/Ipol). 7. En la ficha “Prueba”, especifique los puntos de prueba (valores "Idiff") y el Tipo de falta que desee. ENSYS S.A.C.

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Advanced Differential Diff Trip Time Characteristic Ejecución de la Prueba 6. Inicie la prueba con Prueba. Acto seguido se ejecutarán los puntos de prueba de la tabla de prueba, resaltándose en el gráfico los puntos correspondientes 7. Es posible realizar la prueba de un punto individual


8. Podrá ver el informe cambiando a la vista Informe

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Esta prueba esta proyectada para determinar la habilidad del relé diferencial para bloquear el disparo bajo condiciones de energización del transformador u otras posibles condiciones del sistema. Las corrientes de prueba se inyectan únicamente en el devanado de referencia. Existen prueba:

dos

modos

de

• Prueba de disparo • Prueba de búsqueda

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Ventana Prueba de disparo Los puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen a partir del ingreso de la Idiff en la tabla de prueba y el software mide e introduce los tiempos de disparo.

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Ventana Prueba de busqueda Se configura los puntos de prueba en función de Idiff para un par de valores Idiff/Ipol y el software mide e introduce la relación actual entre el armónico seleccionado y la corriente diferencial (Idiff)

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Ventana General Aquí se configura si se ha de considerar tiempo de post-falta, asi como la condición del trigger.

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Ventana Salida binaria Aquí se configura la posición de las salidas binarias habilitadas en la opción de hardware.

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Ejecución de la Prueba en el Modo de Prueba de Disparo 1. Ajuste los parámetros de Equipo en prueba 2. Ajuste la Configuración del hardware 3. En la ficha “Disparo” especifique: “Idiff“ , El valor Idiff nominal (la corriente diferencial nominal). "Ixf/Idiff“, El valor Ixf/Idiff nominal (relación nominal entre la corriente del armónico seleccionado y la corriente diferencial). "Ángulo (Ixf,Idiff)“, El ángulo de desfase entre lxf e Idff. 4. Seleccione la fase que se va a probar. 5. Seleccione el armónico que desee Nota: El armónico seleccionado se aplica a todas las líneas de la tabla de puntos de prueba; es decir, los armónicos sólo se pueden probar de uno en uno).

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Ejecución de la Prueba en el Modo de Prueba de Disparo 6. Inicie la prueba con Prueba. Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientes se resaltan en el diagrama. 7. Es posible realizar la prueba de un punto individual


8. Podrá ver el informe cambiando a la vista Informe 9. Opcionalmente: En la ficha “General “, puede especificarse una “post-falta”. Si se desea ajustar un tiempo de post-falta, introduzca el valor correspondiente en el cuadro de texto "Tiempo de post-falta" y seleccione "Aplicar". Caso sea requerido, es posible definir el mismo punto de prueba / la misma línea de búsqueda usando un desfase diferente para el armónico.

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Ejecución de la Prueba en el Modo de Prueba de Busqueda 1. Ajuste los parámetros de Equipo en prueba 2. Ajuste la Configuración del hardware 3. En la ficha “Disparo” especifique: “Idiff“ , El valor Idiff (línea de búsqueda como la relación de la corriente de un determinado armónico con la corriente diferencial). “Res. Busqueda“, Resolución de búsqueda (Un punto de la característica se considera "encontrado" cuando un valor Ixf/Idiff que provoca el disparo del relé y otro valor en el cual no dispara están más cerca uno de otro de lo que se ha definido en la resolución de búsqueda) "Ángulo (Ixf,Idiff)“, El ángulo de desfase entre lxf e Idff. 4. Seleccione la fase que se va a probar. 5. Seleccione el armónico que desee Nota: El armónico seleccionado se aplica a todas las líneas de la tabla de puntos de prueba; es decir, los armónicos sólo se pueden probar de uno en uno). ENSYS S.A.C.

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Advanced Differential Diff Harmonic Restraint Ejecución de la Prueba en el Modo de Prueba de Busqueda 6. Inicie la prueba con Prueba. Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientes se resaltan en el diagrama. 7. Es posible realizar la prueba de un punto individual


8. Podrá ver el informe cambiando a la vista Informe 9. Opcionalmente: En la ficha “General “, puede especificarse una “post-falta”. Si se desea ajustar un tiempo de post-falta, introduzca el valor correspondiente en el cuadro de texto "Tiempo de post-falta" y seleccione "Aplicar". Caso sea requerido, es posible definir el mismo punto de prueba / la misma línea de búsqueda usando un desfase diferente para el armónico.

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE Advaced Transplay

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Advanced Transplay

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Advanced Transplay Se usa para importar, editar e inyectar datos transitorios a un equipo en prueba. Estos datos transitorios son creados a partir de eventos reales o simuladas anticipadamente. Archivos soportados: Comtrade, PL4, TRF Pueden añadirse y aplicarse señales binarias definidas por el usuario al equipo en prueba o utilizarse para la evaluación de la prueba. Se pueden asignar marcadores de estado al registro de datos, por ejemplo, para identificar pre-faltas y faltas Se pueden insertar repeticiones de una o toda la señal Con cada canal analógico, se puede introducir la potencia de transformación del convertidor para posibilitar un cambio de escala y convertir los datos primarios en secundarios.

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Advanced Transplay Vistas disponibles El módulo Advanced Transplay, proporciona cuatro vistas diferentes, que son:

Vista de Detalle: En esta vista se realizan todos los ajustes necesarios para la ejecución de la prueba. Se asigna las señales analógicas transitorias a los canales analógicos dela CMC, se interconectan las señales binarias y se definen las condiciones de trigger. Oscilografía: Esta vista se activa una vez que se haya cargado (importado) un registro de datos. La vista presenta las corrientes y tensiones transitorias, las señales binarias, etc. Es en esta vista que se puede editar los registros de datos y adaptarlos según la prueba planeada. Por ejemplo: Repetir secciones de la oscilografía, insertar marcadores de estado, insertar nuevas señales binarias, etc.

Medidas: En esta vista se definen los valores nominales para las medidas de tiempo. Durante la prueba, cada condición de medida se analiza respecto a su tolerancia y se evalua como correcta o incorrecta.

Informe: presenta los resultados de la prueba. El contenido de esta vista puede ser definido por el usuario o se puede usar los ajustes estándar.

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Advanced Transplay Vistas de Detalle Salidas analógicas

Salidas Binarias

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Advanced Transplay Vistas de Detalle Trigger

General

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Advanced Transplay Vistas de Oscilografía

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Advanced Transplay Vistas de Oscilografía

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Advanced Transplay Vistas de Medidas

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Advanced Transplay Ejecución de la Prueba Importar un registro de datos: Para importar un registro de datos se debe: Seleccione Archivo | Importar... para abrir el cuadro de diálogo estándar que se utiliza para seleccionar un archivo. Busque el archivo en la carpeta correspondiente, márquelo y luego haga clic en Aceptar. Resultado: Se carga el registro de datos y aparece la oscilografía con las señales transitorias.

Cambiar la salida análógica para una señal de un registro de datos: Se puede cambiar el bloque de cableado de las señales transitorias que conecta con las salidas analógicas del CMC en Detalle | Salidas analógicas. Haga clic en la casilla para la que se quiere cambiar el bloque de cableado. En la lista desplegable, seleccione la señal deseada.

Cambiar la frecuencia de muestreo: La frecuencia de muestreo que debe utilizarse para la salida de los datos transitorios se puede cambiar en Detalle | General. La frecuencia de muestreo original es el ajuste por defecto. Se indica este valor y también la frecuencia de muestreo máxima posible. En el cuadro de texto situado al lado de "Usada", introduzca la frecuencia de muestreo que le interese. Se permiten todos los valores inferiores a la frecuencia de muestreo máxima.

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Advanced Transplay Ejecución de la Prueba Ajustar la Condición de Trigger: Especificando las condiciones del trigger se determina el momento de iniciar la emisión de los datos transitorios. Este ajuste se hace en Detalle | Trigger. En el cuadro superior, seleccione una condición de trigger activando la casilla de verificación situada al lado de la condición de trigger. Si se ha seleccionado trigger binario, con cada entrada binaria, seleccione el estado requerido en la lista desplegable de los estados disponibles (la ruta de las entradas binarias se ha tomado de Configuración del hardware | Entradas binarias). Un 1 indica una señal binaria "activa", un 0 una señal binaria "inactiva" y X indica que la señal de ese canal se desestima en la comparación lógica. Seleccione si los ajustes deben relacionarse por medio de un operador lógico AND u OR haciendo clic en el botón de radio situado junto a la condición requerida.

Realizando Repeticiones de Pruebas: Realizar repeticiones de pruebas significa que la lectura de los datos transitorios para el equipo en prueba se realiza varias veces seguidas. Con cada repetición, se verifican las condiciones de la medida y se evalúa la prueba otra vez. En Detalle | General introduzca el número de repeticiones. 0 x significa que no se efectúan repeticiones. Por tanto, la prueba sólo se ejecuta una vez. El número de repeticiones está limitado a 999. Se pueden visualizar los resultados de las pruebas individuales en los "resultados de la prueba" del modo oscilografía, introduciendo la repetición deseada en el campo "Nº de medidas".

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Advanced Transplay Ejecución de la Prueba Insertar Marcadores de Estado: En el oscilograma, los marcadores de estado se ajustan para señalar momentos específicos, p. ej. cambios de estado. Estos marcadores se pueden utilizar entonces para la definición de las condiciones de la medida en la vista Medidas. En el oscilograma, active el modo "expandido" y mueva el Cursor 1 a la posición donde debe ajustarse el marcador de estado. Seleccione Edición | Insertar un marcador de estado para abrir el cuadro de diálogo "Marcadores de estado". En el campo Nombre, introduzca el nombre del marcador de estado y verifique el momento especificado. A continuación puede editarlo en el campo. Haga clic en "Aceptar" para cerrar el cuadro de diálogo.

Insertar Marcadores de Datos Tipo Repetición: En el oscilograma, active el modo "original" y seleccione el rango de tiempo que desea con los cursores (tenga en cuenta que el Cursor 1 marca el principio y el Cursor 2 el fin del rango). Seleccione Edición | Insertar la repetición... para abrir el cuadro de diálogo. En el campo Nombre introduzca el nombre de la repetición y compruebe que las posiciones de los cursores definen correctamente el principio y la duración. De no ser así, se pueden editar en el campo. Introduzca el número de repeticiones. El valor por defecto es 1x; es decir, el rango se emite una vez repetido. Haga clic en "Aceptar" para cerrar el cuadro de diálogo.

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Advanced Transplay Ejecución de la Prueba Definir Señales Binarias: Se pueden definir señales binarias, por ejemplo, para aplicarlas al equipo en prueba, o para utilizarlas como señal de referencia para la definición de condiciones de medida en Medidas. En el oscilograma, active el modo "expandido" y mueva el Cursor 1 y 2 a las posiciones de tiempo donde la señal binaria ha de alternar su estado (posteriormente se pueden definir otros cambios de límite). Seleccione Edición | Insertar la señal binaria... para abrir el cuadro de diálogo "Señales binarias". En el campo Nombre introduzca el nombre de la señal binaria y establezca qué estado debería tener la señal dentro del rango incluido entre los cursores. Como el cuadro de diálogo es "no modal" se mantiene abierto hasta hacer clic en "Cancelar". Por esta razón, se pueden definir otros cambios en los límites en la oscilografía cambiando las posiciones de los cursores y ajustando el rango incluido a "cero" o "uno".

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Advanced Transplay Ejecución de la Prueba

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE Herramientas de prueba

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Transplay

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Transplay Reproducción de Transitorios. Permite cargar y reproducir archivos de transitorios que contienen formas de onda de tensión y corriente. Prueba de reles con fallas reales capturadas por un registrador de fallas digital o prueba con transitorios generados por un programa de simulación (EMTP). Capacidad de sincronización por medio de una señal de inició proveniente de un GPS. Transplay soporta formatos COMTRADE de IEEE y WAV

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Transplay Barra De Herramientas

Ayuda Temas de ayuda Reproducir archivos Ver señal Propiedades Configuración del Hardware Guardar lista de archivos Abrir lista de archivos

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Transplay Ventanas : 1

Vista de la prueba 3

2

3

Vista de Señal

1

Vista de propiedades

2

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Transplay Prueba :

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EnerLyzer

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EnerLyzer Multímetro de parámetros eléctricos . Permite configurar las entradas binarias 6, 8 y 10 de la CMC 256 para convertirlas en entradas binarias, o entradas analógicas para medir tensiones o corrientes. Nota: Opcionalmente puede adquirirse la licencia completa del módulo Enerlyzer que permite a la CMC ser utilizada como: Registrador de perturbaciones. Registrador de tendencias. Analizador de calidad de energía. Etc.

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EnerLyzer Barra De Herramientas

Registrador de Tendencias Análisis de Armónicos Registrador de Transit. Modo Multímetro Valores Secundarios Valores Primarios Parar Iniciar Borrar Informe Añadir al Informe Ver Informe Configuración del Trigger de Tiempo Configuración de Entradas Configuración del Hardware

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EnerLyzer Configuración de Entradas

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Harmonics

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Harmonics Generación de armónicos con frecuencia de hasta 1000 Hz con armónicos pares e impares hasta el 16avo armónico para 60 Hz y 20avo armónicos para 50 Hz. Generación directa de señales analógicas o generación de archivos COMTRADE. Inyección de la señal compuesta por tres estados: Pre-señal, Señal y Post-señal. Indicación de la Distorsión Armónica Total de la señal generada para cada canal. Incluye un temporizador que arranca en el momento de inicio de la inyección armónica y se detiene con un evento de trigger.

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Harmonics Barra De Herramientas

Borrar prueba Pausar prueba Iniciar prueba Encendido / Apagado (salida estática) Configurar Hardware Tiempo en ciclos Tiempo en segundos Guardar Abrir Nuevo

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Harmonics Ventanas : 1

Vista de la prueba

2

Entradas Binarias

3

Barra de Sobrecarga

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3

2

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Harmonics Prueba :

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Binary I/O Monitor

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Binary I/O Monitor Monitor de Entradas y Salidas Binarias. Indica el estado de todas las entradas y salidas binarias del equipo de prueba conectado. Indicación de cambio de estado entre actualizaciones de la información mostrada. Función de congelamiento para una investigación pormenorizada. Herramienta de gran ayuda en la prueba de lógicas de control de dispositivos de maniobra de una bahúia de subestación. Funcionamiento en paralelo con cualquier módulo de prueba OMICRON.

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Binary I/O Monitor Ventanas :

3

Entradas y salidas del 1 equipo de prueba 2

3

Entradas y salidas del equipo opcional CMB IO-7

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Botones de mando: - Mantener / Restablecer - Indicar cambio de estado 2

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O/C Characteristics Grabber

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O/C Characteristics Grabber Complemento del módulo de prueba “Overcurrent”. Ayuda a extraer características de sobrecorriente a partir de representaciones gráficas. Útil en casos en los que la curva característica de tiempo inverso no se conoce y sólo se cuenta con una representación gráfica (por ejemplo, una imagen en un manual de un relé). La curva extraída, puede ser exportada y guardada para posteriormente ser utilizada por el módulo de prueba “Overcurrent”

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AuxDC

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AuxDC AuxDC se emplea para ajustar la salida de tensión CC auxiliar del dispositivo de prueba CMC 256 Regulador Con el ‘slider control’ seleccionar: - Uno de los valores de tensión preestablecidos. - Otros, que permite introducir cualquier valor de tensión que elija, sin sobrepasar los límites del grupo de prueba - OFF, para desactivar la tensión CC auxiliar. Botones - Ajustar: Cambia el valor de la tensión ajustado actualmente a la salida de tensión CC auxiliar del dispositivo CMC 256. - Cerrar: Sale de AuxDC - Ayuda: Invoca la ayuda en línea de AuxDC - Por defecto: Hace que el valor de la tensión ajustado actualmente sea la potencia de arranque por defecto del dispositivo CMC 256. La próxima vez que se arranque el CMC 256, la salida de CC auxiliar se ajustará automáticamente con este valor por defecto.

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE Configurar

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Asociación de Unidad de Prueba

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Asociación de Unidad de Prueba Permite configurar los equipos con la Opcion NET-1 (puerto Ethernet IEC 61850) para que puedan ser controlados o no desde una PC determinada.

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Asociación de Unidad de Prueba Asociar Permite seleccionar una unidad de prueba de la lista de equipos y asociarla a la PC. Luego de seleccionada la opción se debe accionar el botón asociar de la parte posterior del hardware

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Asociación de Unidad de Prueba Configuración de IP Permite configurar la dirección IP del equipo de pruebas.

Busqueda Permite buscar equipos de prueba conectados a una red.

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Asociación de Unidad de Prueba Actualizar / degradar software Permite buscar equipos de prueba conectados a una red.

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Ajustes del Sistema

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Ajustes del Sistema Permite configurar Datos y valores de prueba que serán de uso general cuando se utiliza los módulos de Prueba del OMICRON TEST UNIVERSE.

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Ajustes del Sistema Permite configurar Datos y valores de prueba que serán de uso general cuando se utiliza los módulos de Prueba del OMICRON TEST UNIVERSE.

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Administrador de Licencias

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Administrador de Licencias Combina la funcionalidad de un “buscador de licencias” con la de una herramienta de “edición de licencias”. Permite buscar las licencias instaladas en un PC Permite adicionar nuevas licencias al archivo omicron.lic

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Administrador de Licencias Barra superior File / Open File and Merge Permite navegar a traves de los directorios y seleccionar un archivo de licencia. El archivo de licencia es añadido al archivo principal omicron.lic asi como se añaden las nuevas llaves. Edit / Merge File Permite seleccionar un archivo de licencia del campo superior y adicionarla en su totalidad al archivo principal omicron.lic Edit / Delete File Borra un archivo de licencia seleccionado

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Administrador de Licencias Barra inferior Izquierda Edit / Merge Device Permite adicionar un equipo al archivo principal omicron.lic Edit / Delete Device Borra un equipo de prueba del archivo principal omicron.lic

Barra inferior Derecha Edit / Merge Key Permite adicionar una llave al archivo principal omicron.lic para activar un nuevo módulo de prueba. Edit / Delete Device Borra una determinada llave del archivo principal omicron.lic

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Selección de Idioma

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Selección de Idioma Permite seleccionar el Idioma utilizado para las aplicaciones del software..

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Software

OMICRON TEST UNIVERSE Calibración y Diagnostico

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Field Calibration Software

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Field Calibration Software Permite verificar si el equipo de pruebas CMC está dentro de sus especificaciones de calibración. El software ofrece para ello un conjunto de plantillas de prueba. Para su realización se requiere tener dispositivos de medición adecuados. Una vez concluida la calibración, el Filed Calibration Software ofrece un completo reporte de prueba.

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Comprobación del hardware

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Comprobación del hardware Al ejecutar este comando y cada vez que un módulo de prueba es arrancado, el software realiza una comprobación del estado del Hardware, que es grabada con el nombre de HWCHECK.LOG en C:Documents and Stettings/All Users/Datos de programa/OMICRON/Test Universe.

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Información Informaci ón de calibraci calibración ón

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Información Informaci ón de calibraci calibración ón Permite revisar el informe de calibración original de todos los equipos cuyo software a sido instalada en la computadora actual.

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Logfile

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Logfile Permite verificar la compatibilidad CMC-PC, asi como posibles errores u conflictos del software OMICRON TEST UNIVERSE con otros programas instalados en la PC del usuario.

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Para cualquier informacion en el Perú:


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