Cara Kerja Mikroskop Elektron

Cara Kerja Mikroskop Elektron 1. Mik Mikros roskop kop tran transmi smisi si elekt elektron ron (TE (TEM) M) Mikros Mik roskop kop tran transmi smisi si elet eletron ron saa saatt ini tel telah ah men mengal galami ami pen pening ingkat katan an kinerja hingga mampu menghasilkan resolusi hingga 0,1 nm (atau 1 angstrom angstrom)) atau sama dengan pembesaran sampai satu juta kali. Meskipun banyak bidang  bidang ilmu pengetahuan yang berkembang pesat dengan bantuan mikroskop transmisi elektron ini. !danya persyaratan bah"a #obyek pengamatan harus setipis mungkin$ ini kembali membuat sebagian peneliti tidak terpuaskan, terutama yang memiliki oby ob yek yan ang g ti tida dak k da dap pat de den nga gan n se sert rtaa mer erta ta di dip per erti tip pis is.. Ka Kare ren na it itu u  pengembangan metode baru mikroskop mikroskop elektron terus dilakukan. %. Mikros Mikroskop kop &emind &emindai ai Ele't Ele'tron ron (EM) (EM) &ada EM, gambar dibua berdasarkan deteksi ele'tron baru (ele'tron sekunder) atau ele'tron pantul yang mun'ul dari permukaan sample ketika  permukaan sample tersebut dipindai dengan sinar ele'tron.elektron sekunder  atau ele'tron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian  besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelapterang pada layar  monitor monitor CT CT ('athode ('athode ray tube). *i layar CT inilah inilah gambar gambar struktur struktur obyek  yang yang suda sudah h dipe diperb rbesa esarr bisa bisa dili diliha hat. t. &ada &ada pros proses es opera operasin siny ya, EM EM tida tidak  k  memerlukan sample yang ditipiskan, sehingga isa diigunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang + dimensi. +. Mikroskop Mikroskop Elektron Elektron &emindai &emindai ingkung ingkungan an (EEM) (EEM) &ert &e rtam ama ata tam ma

dil ilak aku uka kan n

suat su atu u

upa pay ya

untu un tuk k

men eng ghi hila lan ngk gkan an

 penumpukan elektron ( charging ) di pe perm rmuk ukaa aan n ob oby yek, de deng ngan an me memb mbuat uat suasana dalam ruang sample tidak -akum tetapi diisi dengan sedikit gas yang akan ak an

men enga gant ntar arka kan n

muat mu atan an

posi po siti ti

ke

perm pe rmuk ukaa aan n

oby ob yek ek,,

sehi se hing ngga ga

 penumpukan elektron dapat dihindari. dihindari.

/al ini menimbulkan masalah karena kolom tempat elektron diper'epat dan ruangilamen di

mana

elektron

yang

dihasilkan

memerlukan

tingka tin gkatt -ak -akum um ya yang ng tin tinggi ggi.. &er &ermas masala alahan han ini dap dapat at dis diseles elesaik aikan an den dengan gan

memisahkan sistem pompa -akum ruang obyek dan ruang kolom serta ilamen, dengan menggunakan sistem pompa untuk masingmasing ruang. *i antaranya kemudian dipasang satu atau lebih piringan logamplatina yang biasa disebut

(aperture)

berlubang

dengan

diameter

antara

%00

hingga

00 mikrometer yang digunakan hanyauntuk mele"atkan elektron , sementara tingkat ke-akuman yang berbeda dari tiap ruangan tetap terjaga.

. Mikroskop eleksi Elektron (EM) ele'tion Ele'tron Mi'ros'ope (EM), adalah mikroskop elektron yang memiliki 'ara kerja yang serupa dengan 'ara kerja TEM, namun sistem ini menggunakan deteksi pantulan elektron pada permukaan objek  . pin&olari2ed o"Energy Ele'tron Mi'ros'opy (&EEM) pin&olari2ed o"Energy Ele'tron Mi'ros'opy (&EEM) ini adalah merupakan 3ariasi lain yang dikembangkan dari teknik yang sudah ada sebelumnya, dan digunakan untuk melihat struktur mikro dari medan magnet.

http455apriliaitri0."ordpress.'om5%01+5015165mikroskopelektron5 http455publikasiilmiah.un"ahas.a'.id5inde7.php5M8ME9T:M5arti'le5-ie";ile5<%05= +< Khan, >ru'e. %00%. Hand Out Scanning Electron Mikroscopy. Karlik, Mirosla-. %001.  Lattice Imaging In Transmission Electron Microscopy. *epartment o Materials,;a'ulty o 9u'lear.